Il SIM (Strobed Inspection Module) è l'essenza di ogni sistema AOI 2D di CyberOptics. Progettato e realizzato esclusivamente da CyberOptics, il SIM offre ispezioni ad alte prestazioni a 110 cm²/sec – Ed è assolutamente privo di calibrazione. La tecnologia AI² (Autonomous Image Interpretation) nella soluzione QX250i garantisce una programmazione ultra-veloce ed è in grado di portarti da zero a livello di produzione in meno di 13 minuti*. Dotato di un sensore da 80 megapixel, QX250i™ migliora in modo significativo le prestazioni dell'ispezione dei giunti di saldatura e 01005.
I sistemi di ispezione AOI 2D serie QX offrono ispezioni rapide, flessibili e ad alte prestazioni per tutte le applicazioni. Sono ottimizzati per l'ispezione pre-riflusso e selettiva. Gli Strobed Inspection Module (SIM) ad alta risoluzione inferiori e superiori dotati di illuminazione potenziata offrono una piattaforma unica per il processo di ispezione e revisione dei difetti che riduce la linea di produzione e promuove un aumento della produttività del 50%.
- SIM (Strobed Inspection Module) progettato da CyberOptics
- Ispezione ad alte prestazioni a 110 cm²/sec
- Sistema privo di calibrazione
- Tecnologia AI² per programmazione ultra-veloce
- Da zero a produzione in meno di 13 minuti*
- Sensore da 80 megapixel (QX250i™)
- Miglioramento significativo nell'ispezione dei giunti di saldatura e 01005
- Ottimizzato per ispezione pre-riflusso e selettiva
- Illuminazione potenziata per ispezione superiore e inferiore
- Aumento della produttività fino al 50%