PanoramicaIl AMI Gen7 C-SAM è un sistema di micro‑imaging acustico per l'ispezione interna non distruttiva di componenti e wafer. Combina un'ampia area di scansione illuminata, il software Sonolytics 2 e controllo di movimento ad alta velocità per supportare modalità di acquisizione ad alta risoluzione fino a mandrini wafer da 350 mm.
Caratteristiche principali- Area di scansione 350 × 350 mm per piccoli componenti fino a mandrini da 350 mm.
- Software Sonolytics 2 con interfaccia orientata all'operatore (Windows 10).
- Acquisizione ad alta velocità resa possibile da cinque motori di scansione indipendenti e contrappeso azionato da motore lineare.
- Digitalizzatore fino a 6 GHz (12 bit) e risoluzione immagine fino a 32K × 32K.
- Supporto per doppio monitor 28" 4K e connettività USB 3.0; configurazioni da tavolo dritte e curve.
Funzionalità avanzate- PolyGate per gating avanzato e analisi stratificata.
- SonoSimulator per simulazione acustica e pianificazione delle ispezioni.
- Virtual Rescanning Mode (VRM) per rielaborare acquisizioni senza rescansione fisica.
- Frequency Domain Imaging (FDI) per contrasto basato sulla frequenza e discriminazione dei difetti.
Specifiche in breveArea di scansione: 350 mm × 350 mm
Corsa asse Z: 170 mm
Motori X/Y: 2 × motore a stelo lineare ciascuno
Motore Z: servomotore con vite madrevite
Sistema operativo: Windows 10 con Sonolytics 2
Computer: Intel i7, SSD/HD
Digitalizzatore: fino a 6 GHz, 12 bit
Risoluzione immagine: fino a 32K × 32K
Monitor: doppio 28" 4K
Configurazione tavolo: dritta e curva
USB: USB 3.0
Contrappeso: azionato da motore lineare
Applicazioni tipiche- Ispezione non distruttiva di assemblaggi elettronici e giunzioni.
- Localizzazione di difetti su wafer, package e interfacce incollate.
- Analisi dei materiali e indagini di guasto ad alta risoluzione.