Sistema di ispezione controllato da computer AMI DF2400/FACTS2 C-SAM®

automatizzatocontrollabile tramite PCad alta velocità

Panoramica
FACTS² (AMI DF2400) è un sistema di ispezione C-SAM automatizzato in linea progettato per la produzione ad alto volume. Ispeziona simultaneamente due vassoi o moduli e utilizza più testine di scansione con azionamenti a motore lineare e bilanciamento inerziale per ridurre vibrazioni e movimento del campione, consentendo acquisizioni di immagine molto rapide.

Capacità principali
Il sistema supporta vassoi JEDEC e Auer Boat come parte del processo in linea. Gestisce inoltre strip di lead-frame, moduli di potenza IGBT, MLCC, flip chip e componenti confezionati simili. La scansione non immersiva con il trasduttore WaterFall riduce i rischi di contaminazione e ingresso di fluidi. Polygate e Time Domain Imaging acquisiscono più profondità per un'analisi completa dei difetti interni.

Caratteristiche

• Ispezione automatizzata in linea con scansione simultanea di due vassoi/moduli per elevata portata
• Imaging di precisione con accuratezza di circa ±0,5 µm
• Configurazioni multi-testina per aumentare la portata (miglioramento 2×–7× rispetto a strumenti precedenti)
• Scansione non immersiva WaterFall per minimizzare contaminazione, ingresso di liquidi e movimento delle parti
• Pacchetto Auto Data Analysis per criteri di accettazione/rifiuto e segnalazione automatica
• Opzione Vacuum Hold Down per stabilizzare piccole parti durante la scansione
• Camera di asciugatura separata con fino a quattro lame d'aria oscillanti e riscaldamento opzionale
• Integrazione di fabbrica tramite SECS-II / GEM (SEMI E30) e SMEMA

Funzionalità aggiuntive integrate nel FACTS² / DF2400

• Piattaforma software Sonolytics (supporto Sonolytics per Windows 7)
• Pacchetto Auto Data Analysis e strumenti di classificazione dei difetti
• Configurazione a 2 scanner con scansione ROI
• Polygate: acquisizione fino a 100 profondità di interesse
• Time Domain Imaging e Auto Scan per più posizioni
• Messa a fuoco di precisione per l'estrazione di strati sottili

Applicazioni

• Ispezione in linea di componenti confezionati su vassoi JEDEC e Auer Boats
• Ispezione di strip di lead-frame, moduli IGBT, MLCC, flip chip e componenti similari
• Individuazione e classificazione dei difetti interni dell'imballaggio: void, disbond, delaminazioni e cricche

Dati e integrazione
Dotato di Sonolytics e di un'interfaccia SECS-II / GEM (SEMI E30) per il tracciamento elettronico dei dati. I dati di lotto sono disponibili come immagini o file di analisi tabulati (fogli di calcolo e mappe vassoio). Criteri di accettazione/rifiuto e categorizzazione dei difetti configurabili secondo gli standard qualità del cliente.

Caratteristiche / specifiche tecniche

• Modello: AMI DF2400 (FACTS²)
• Modalità di ispezione: scansione C-SAM non immersiva con trasduttore WaterFall
• Precisione di scansione: circa ±0,5 µm
• Portata: ispezione simultanea di due vassoi/moduli; miglioramento 2×–7× vs strumenti precedenti (dipende dalla configurazione)
• Testine di scansione: multi-testina; opzione 2 scanner con ROI
• Profondità: Polygate fino a 100 profondità; Time Domain Imaging
• Fissaggio: Vacuum Hold Down opzionale per piccole parti
• Asciugatura: camera separata con fino a 4 lame d'aria oscillanti e riscaldamento opzionale
• Supporto portatori: vassoi JEDEC, Auer Boat (configurabile)
• Software: Sonolytics (Windows 7 supportato), Pacchetto Auto Data Analysis
• Interfacce: SECS-II / GEM (SEMI E30), SMEMA
• Automazione: Auto Scan per più posizioni; analisi automatica accetta/rifiuta e categorizzazione dei difetti
• Parti target tipiche: strip lead-frame, moduli IGBT, MLCC, flip chip e altri componenti confezionati