Microscopio elettronico a scansione SU3800/3900 Family
per ispezionemultiusoda ricerca

Microscopio elettronico a scansione - SU3800/3900 Family - Hitachi High-Tech Europe GmbH - per ispezione / multiuso / da ricerca
Microscopio elettronico a scansione - SU3800/3900 Family - Hitachi High-Tech Europe GmbH - per ispezione / multiuso / da ricerca
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Caratteristiche

Tipo
elettronico a scansione
Applicazioni
da ricerca, per ispezione, multiuso
Configurazione
a pavimento
Tipo di rilevatore
con rilevatore di elettroni retrodiffusi, con rilevatore di elettroni secondari
Altre caratteristiche
alta risoluzione, automatizzato, a scansione con pressione variabile, per nanotecnologie
Ingrandimento

Min.: 5 unit

Max.: 800.000 unit

Risoluzione spaziale

3 nm, 4 nm, 15 nm

Descrizione

La famiglia SU3800/3900 VP-SEM punta sulla produttività. Questi strumenti automatizzano le attività ripetitive, consentendo di ottenere risultati riproducibili in breve tempo e con poco sforzo manuale. Sono disponibili due diverse camere di campionamento con ottiche a emissione di campo al tungsteno o Schottky. Entrambi i modelli SU3800 e SU3900 sono dotati di software, elettronica e piattaforma di rivelazione comuni. Caratteristiche del prodotto: - Rivelatori Hitachi ad alta efficienza: -- Rivelatore di elettroni secondari per alto vuoto -- Rivelatore di elettroni retrodiffusi a 5 segmenti a semiconduttore per alto e basso vuoto, selezione di diverse modalità di segnale come contrasto del materiale, topografia superficiale, 3D -- Rivelatore multifunzione opzionale "UVD": Elettroni secondari in basso vuoto, segnale di catodo segnale di luminescenza, trasmissione (STEM, in combinazione con uno speciale supporto per campioni) - Ottica elettronica moderna e senza campo, a scelta con emettitore di campo Schottky o con catodi a forcina di tungsteno robusti, economici e, grazie a un controllo intelligente, di lunga durata - Facile manipolazione anche di campioni non elettricamente conduttivi grazie all'efficace modalità operativa integrata a basso vuoto, che può essere attivata con un semplice clic del mouse, se necessario - Per una visione d'insieme perfetta: Le immagini di navigazione a colori delle piastre campione coprono l'intera area del campione osservabile al SEM - Funzionamento senza preoccupazioni: le collisioni tra lo stage e i componenti del SEM sono virtualmente eliminate grazie alla limitazione della corsa applicata automaticamente e con un range dinamico

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Fiere

Fiere a cui parteciperà questo venditore

CONTROL 2025
CONTROL 2025

6-09 mag 2025 Stuttgart (Germania)

  • Maggiori informazioni
    Analytica 2026
    Analytica 2026

    24-27 mar 2026 München (Germania)

  • Maggiori informazioni
    * I prezzi non includono tasse, spese di consegna, dazi doganali, né eventuali costi d'installazione o di attivazione. I prezzi vengono proposti a titolo indicativo e possono subire modifiche in base al Paese, al prezzo stesso delle materie prime e al tasso di cambio.