Microscopio elettronico a scansione ad emissione di campo SU8700
da laboratorioda ricercaa pavimento

Microscopio elettronico a scansione ad emissione di campo - SU8700 - Hitachi High-Tech Europe GmbH - da laboratorio / da ricerca / a pavimento
Microscopio elettronico a scansione ad emissione di campo - SU8700 - Hitachi High-Tech Europe GmbH - da laboratorio / da ricerca / a pavimento
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Caratteristiche

Tipo
elettronico a scansione ad emissione di campo
Applicazioni
da laboratorio, da ricerca
Configurazione
a pavimento
Sorgente di elettroni
a emissione di campo Schottky
Tipo di rilevatore
con rilevatore di elettroni retrodiffusi, con rilevatore di elettroni secondari, con rilevatore di raggi X a dispersione energetica
Altre caratteristiche
ad altissima risoluzione, automatizzato, a scansione con pressione variabile
Ingrandimento

Max.: 2.000.000 unit

Min.: 20 unit

Risoluzione spaziale

0,6 nm, 0,9 nm

Descrizione

SEM a effetto Schottky per l'acquisizione di immagini ad altissima risoluzione e per attività analitiche Ideali per gli utenti che desiderano sia l'acquisizione di immagini ad altissima risoluzione sia funzionalità analitiche. Distanza di lavoro analitica di soli 6 mm. Visualizzazione in parallelo di un massimo di sei canali di immagine tramite un'interfaccia utente a doppio monitor. Le funzionalità a pressione variabile, senza necessità di aperture aggiuntive, consentono l'acquisizione di immagini e analisi su campioni non conduttivi. Automazione avanzata per flussi di lavoro ottimizzati. Sorgente a emissione di campo Schottky. Amplificazione del fascio a gamma completa e obiettivo ibrido elettrostatico-magnetico per una risoluzione sub-nanometrica senza interazione magnetica con il campione. Camera più ampia. Può ospitare campioni fino a 200 mm di diametro e 80 mm di altezza. 18 porte di accesso alla camera, incluse due porte per il cablaggio nello sportello del tavolino, per accessori opzionali. Ottimizzato per l’ispezione rapida (ad alta produttività) di campioni fino a 150 mm di diametro. Caricamento dei campioni tramite una camera di scambio standard da sei pollici, eventualmente con un meccanismo opzionale di trasferimento a gas inerte. Panoramica I microscopi elettronici a scansione a emissione di campo (FE-SEM) SU7000 e SU8700 di Hitachi offrono un equilibrio eccezionale tra imaging ad altissima risoluzione e capacità analitiche. Progettati per entrambe le funzioni, questi due strumenti condividono le stesse ottiche elettroniche ad alte prestazioni e le stesse caratteristiche analitiche, ma presentano dimensioni della camera e del tavolino diverse. I modelli SU7000 e SU8700 sono progettati per gestire un’ampia gamma di applicazioni. La loro sorgente di elettroni a emissione di campo Schottky ad alta luminosità, la capacità di imaging multisegnale a scansione singola e l’automazione opzionale del flusso di lavoro (tramite il software EM Flow Creator) garantiscono risultati costanti e una produttività superiore.

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* I prezzi non includono tasse, spese di consegna, dazi doganali, né eventuali costi d'installazione o di attivazione. I prezzi vengono proposti a titolo indicativo e possono subire modifiche in base al Paese, al prezzo stesso delle materie prime e al tasso di cambio.