Microscopi da laboratorio HITACHI

Ingrandimento: 20 unit - 2.000.000 unit
Risoluzione spaziale: 0,6, 0,9 nm

... scambio standard da sei pollici, eventualmente con un meccanismo opzionale di trasferimento a gas inerte. Panoramica I microscopi elettronici a scansione a emissione di campo (FE-SEM) SU7000 e SU8700 di Hitachi offrono un equilibrio ...

Ingrandimento: 6, 8.000.000 unit
Risoluzione spaziale: 15, 4 nm

... adatte sia ai professionisti esperti che ai neofiti della microscopia elettronica. La configurazione flessibile dello strumento lo rende la soluzione ideale per diversi ambienti di laboratorio. Che si tratti di campioni ...

Ingrandimento: 10 unit - 250.000 unit
Lunghezza: 617 mm

... monitoraggio del filamento Il microscopio elettronico a scansione Hitachi TM4000PlusIII offre una soluzione compatta e intuitiva per l’imaging e l’analisi elementare. Progettato per una vasta gamma di utenti – dai laboratori ...

Ingrandimento: 20 unit - 8.000.000 unit
Risoluzione spaziale: 0,08, 0,1 nm

... simmetricamente opposti: “Symmetrical Dual SDD*” Alloggiamento di nuova concezione per prestazioni ottimali in ambienti di laboratorio reali Ampia gamma di portacampioni avanzati Hitachi* FEG a freddo ad alta luminosità × Alta stabilità ...

Ingrandimento: 1.000.000, 800.000, 600.000 unit
Risoluzione spaziale: 0,19, 0,14, 0,2 nm

... La serie HT7800 è costituita da microscopi elettronici a trasmissione (TEM) da 120 kV che combinano l’acquisizione di dati di alta qualità e riproducibili con una maggiore efficienza nelle operazioni di osservazione. Grazie all’automazione ...

Ingrandimento: 5 unit - 600.000 unit
Risoluzione spaziale: 0,9, 2,5 nm

... industriali di grandi dimensioni, questi microscopi elettronici a scansione vi offrono la versatilità e la stabilità necessarie per supportare gli obiettivi del vostro laboratorio. Ideali sia per i laboratori ...

Risoluzione spaziale: 60, 4 nm

... orientamento del campione completamente integrato per l’effetto anti-curtaining (tecnologia ACE) Preparazione dei campioni TEM per lamelle uniformi con qualsiasi orientamento 4. Compatibile con il triplo fascio, per risultati di qualità ...

Risoluzione spaziale: 1,6, 2,1, 4 nm

... ad alta risoluzione, in grado di soddisfare le più recenti esigenze nell’ambito dell’analisi strutturale 3D e delle analisi TEM e 3DAP. Il sistema FIB-SEM NX9000 garantisce la massima precisione nella lavorazione dei materiali per un’ampia ...

Risoluzione spaziale: 2,8, 60, 4, 3,5 nm

... NX2000 è un FIB-SEM ottimizzato per le applicazioni dei semiconduttori (analisi dei difetti con importazione di coordinate KLARF, estrazione di lamelle TEM, sviluppo di dispositivi). Con una corsa X,Y di 205 x 205 mm, lo stadio di campionamento consente ...