Microscopio CFE-SEM SU8600

da ricerca3Da pavimento

Il modello SU8600 inaugura una nuova era di microscopi elettronici a scansione ad emissione di campo freddo (CFE-SEM) ad altissima risoluzione nella storica gamma EM di Hitachi. Questa rivoluzionaria piattaforma CFE-SEM integra funzionalità di imaging multifunzionali, automazione, maggiore stabilità del sistema, flussi di lavoro efficienti per utenti di ogni livello di esperienza e molto altro ancora. Caratteristiche Ottica elettronica e rivelatori Tecnologia di base (sorgente di elettroni a emissione di campo fredda) Da quando, nel 1972, è stata realizzata la sorgente di elettroni a emissione di campo fredda (CFE), Hitachi High Tech ha costantemente migliorato questa eccezionale tecnologia per l’imaging elettronico ad alta risoluzione. Gli ultimi sviluppi nella progettazione dei cannoni elettronici garantiscono una maggiore stabilità di irradiazione del fascio elettronico nella regione ad alta luminosità. Il modello SU8600 consente un’imaging con elevato rapporto segnale/rumore anche a basse tensioni di accelerazione e può essere utilizzato anche per misurazioni e analisi a lungo termine in condizioni di irradiazione ad alta corrente, rivaleggiando con altre tecnologie di cannoni elettronici disponibili sul mercato. Tecnologia di base (ExB) È possibile rilevare in modo efficiente gli elettroni secondari (SE) senza modificare la traiettoria degli elettroni primari, formando un campo elettrico e un campo magnetico reciprocamente ortogonali (campo ExB) sopra la lente obiettivo. Questa tecnologia di base consente di ottenere immagini con eccellente rapporto segnale/rumore e contrasto, anche in condizioni di corrente di sonda minima, spesso utilizzate per l’imaging ad alta risoluzione. Tecnologia di base (SuperExB) Il progresso nella progettazione volto a realizzare la funzione di miscelazione del segnale SuperExB è una delle tecnologie distintive di Hitachi High-Tech. Gli elettroni (elettroni secondari, SE, o elettroni retrodiffusi, BSE)