Microscopio elettronico a scansione ad emissione di campo SU7000
da ricercain-situBF-STEM

Microscopio elettronico a scansione ad emissione di campo - SU7000 - Hitachi High-Tech Europe GmbH - da ricerca / in-situ / BF-STEM
Microscopio elettronico a scansione ad emissione di campo - SU7000 - Hitachi High-Tech Europe GmbH - da ricerca / in-situ / BF-STEM
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Caratteristiche

Tipo
elettronico a scansione ad emissione di campo
Applicazioni
da ricerca
Tecniche di osservazione
BF-STEM, DF-STEM, in-situ
Configurazione
a pavimento
Sorgente di elettroni
a emissione di campo Schottky
Tipo di rilevatore
con rilevatore di elettroni retrodiffusi, con rilevatore di elettroni secondari
Altre caratteristiche
ad altissima risoluzione, per nanotecnologie, per acquisizione simultanea
Ingrandimento

Min.: 20 unit

Max.: 2.000.000 unit

Risoluzione spaziale

0,8 nm, 0,9 nm

Descrizione

L'SU7000 è ideale per campioni grandi o pesanti e per integrare un'ampia gamma di accessori. Questi accessori includono rivelatori analitici o supporti per la manipolazione del campione in situ (stiramento [trazione] / compressione, riscaldamento/raffreddamento, sondaggio, sezioni seriali al microtomo, ecc.) Dotato, come l'SU8700, dell'ottica elettronica universale ad alta risoluzione e senza campo di Hitachi (composta da emettitore Schottky e amplificatore del fascio), l'SU7000 dispone anche di un'ampia camera per campioni analitici con uno stadio per campioni completamente retrattile. Lo stadio è adatto a campioni di diametro fino a 200 mm, altezza 80 mm e massa di 2 kg. È dotato di punti di accesso multipli alla camera di campionamento e alla porta della camera. Una telecamera a colori integrata consente una facile navigazione sul palcoscenico. Caratteristiche del prodotto: - Emettitore di campo Schottky Hitachi stabile e duraturo con corrente di sonda fino a 200nA - Prestazioni di imaging brillanti, senza la necessità di un campo opposto sul campione, da 100 V (opzione 10 V) a 30 kV di tensione di accelerazione - Ampia camera di campionamento analitico con numerose porte di accesso per gli accessori e uno stadio di campionamento eucentrico per campioni fino a 80 mm di altezza e 200 mm di diametro - La distanza di lavoro EDX analitica di 6 mm consente di lavorare simultaneamente o in rapida successione con l'alta risoluzione e l'analitica

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Fiere

Fiere a cui parteciperà questo venditore

CONTROL 2025
CONTROL 2025

6-09 mag 2025 Stuttgart (Germania)

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    Analytica 2026
    Analytica 2026

    24-27 mar 2026 München (Germania)

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    * I prezzi non includono tasse, spese di consegna, dazi doganali, né eventuali costi d'installazione o di attivazione. I prezzi vengono proposti a titolo indicativo e possono subire modifiche in base al Paese, al prezzo stesso delle materie prime e al tasso di cambio.