Microscopio elettronico a scansione ad emissione di campo SU7000

da ricercaBF-STEMDF-STEM

I moderni microscopi FE-SEM richiedono non solo prestazioni elevate, ma anche una vasta gamma di funzionalità, tra cui l’osservazione su ampia area, l’analisi in situ, la pressione variabile, l’imaging ad alta risoluzione a basse tensioni di accelerazione e la raccolta simultanea di segnali multipli. Il modello SU7000 è stato progettato per soddisfare questi aspetti e molto altro ancora, fornendo informazioni avanzate per le diverse esigenze nel campo della microscopia elettronica. Caratteristiche Concetto chiave 1. Capacità di imaging versatile Il modello SU7000 eccelle nell’acquisizione rapida di segnali multipli per soddisfare le esigenze sempre più ampie della microscopia elettronica a scansione (SEM), dall’imaging di un ampio campo visivo alla visualizzazione di strutture sub-nanometriche e tutto ciò che sta in mezzo. L’integrazione di ottiche elettroniche e sistemi di rilevamento di nuova concezione consente l’acquisizione simultanea ed efficiente di segnali multipli di elettroni secondari ed elettroni retrodiffusi. 2. Acquisizione di immagini multicanale Il numero di rivelatori montati sul SEM è in costante aumento, così come la necessità di visualizzare in modo efficace tutte le informazioni raccolte. Il modello SU7000 è in grado di elaborare, visualizzare e salvare fino a 6 segnali contemporaneamente per massimizzare l’acquisizione delle informazioni. 3. Ampia varietà di tecniche di osservazione La camera del campione e il sistema di vuoto sono ottimizzati per: Campioni di grandi dimensioni Manipolazione del campione su vari assi Condizioni di pressione variabili Condizioni criogeniche Osservazione in situ con riscaldamento e raffreddamento 4. Microanalisi Il cannone elettronico è dotato di un emettitore Schottky che fornisce una corrente del fascio fino a 200 nA per adattarsi a varie applicazioni di microanalisi.