Microscopi con rilevatore di elettroni secondari

Ingrandimento: 20 unit - 2.000.000 unit
Risoluzione spaziale: 0,9, 0,6 nm

... Dotato di serie di una camera di compensazione per campioni da 150 mm, l'SU8700 offre un'elevata produttività anche per i campioni più grandi e un ambiente della camera di campionamento costantemente pulito per un imaging ad alta risoluzione e a bassa ...

Ingrandimento: 20 unit - 2.000.000 unit
Risoluzione spaziale: 0,8, 0,9 nm

... L'SU7000 è ideale per campioni grandi o pesanti e per integrare un'ampia gamma di accessori. Questi accessori includono rivelatori analitici o supporti per la manipolazione del campione in situ (stiramento [trazione] / compressione, riscaldamento/raffreddamento, ...

Ingrandimento: 5 unit - 800.000 unit
Risoluzione spaziale: 15, 4, 3 nm

... . Caratteristiche del prodotto: - Rivelatori Hitachi ad alta efficienza: -- Rivelatore di elettroni secondari per alto vuoto -- Rivelatore di elettroni retrodiffusi a 5 segmenti a semiconduttore ...

Ingrandimento: 6, 8.000.000 unit
Risoluzione spaziale: 15, 4 nm

... FlexSEM II è un SEM da tavolo/compatto per compiti di imaging che vanno oltre le prestazioni dei SEM da tavolo convenzionali. È il sistema ideale per chi non vuole investire in un SEM classico, ma non vuole nemmeno scendere a compromessi sulle prestazioni ...

Ingrandimento: 10 unit - 250.000 unit
Lunghezza: 617 mm

... Progettato come logica estensione della stereomicroscopia ottica, il TM4000 III è un dispositivo entry-level per la microscopia elettronica a scansione. Consente di acquisire immagini di campioni nel più breve tempo possibile, con una ...

Ingrandimento: 20 unit - 8.000.000 unit
Risoluzione spaziale: 0,08, 0,1 nm

... Correttore Cs STEM Hitachi, completamente automatizzato - Rivelatore di elettroni secondari per informazioni sovrapposte sulla superficie del campione in correlazione al segnale degli elettroni trasmessi - ...

Risoluzione spaziale: 2,8, 60, 4, 3,5 nm

... NX2000 è un FIB-SEM ottimizzato per le applicazioni dei semiconduttori (analisi dei difetti con importazione di coordinate KLARF, estrazione di lamelle TEM, sviluppo di dispositivi). Con una corsa X,Y di 205 x 205 mm, lo stadio di campionamento consente ...