Microscopio FIB-SEM NX2000

SEMFIBper ispezione

NX2000 è un FIB-SEM ottimizzato per le applicazioni dei semiconduttori (analisi dei difetti con importazione di coordinate KLARF, estrazione di lamelle TEM, sviluppo di dispositivi). Con una corsa X,Y di 205 x 205 mm, lo stadio di campionamento consente persino l'elaborazione dell'intera superficie di wafer da 200 mm senza rotazione del campione. Il Ga FIB montato verticalmente consente una corrente ionica fino a 100nA a 30 kV. La colonna FE-SEM è dotata di un emettitore di campo freddo.