Microscopi HITACHI

Ingrandimento: 3.000.000 unit
Risoluzione spaziale: 0,4, 0,7 nm

... La sorgente Cold Field Emission è ideale per l'imaging ad alta risoluzione grazie alle dimensioni ridotte della sorgente e alla diffusione dell'energia. L'innovativa tecnologia della pistola CFE contribuisce a creare un FE-SEM di ultima ...

Ingrandimento: 20 unit - 2.000.000 unit
Risoluzione spaziale: 0,6, 0,8, 0,9 nm

... L'SU8700 inaugura una nuova era di microscopi elettronici a scansione a emissione di campo Schottky ad altissima risoluzione che va ad aggiungersi alla lunga serie di EM Hitachi. Questa rivoluzionaria piattaforma FE-SEM ...

Ingrandimento: 20 unit - 2.000.000 unit
Risoluzione spaziale: 0,7, 0,6 nm

... L'SU8600 inaugura una nuova era di microscopi elettronici a scansione a emissione di campo freddo ad altissima risoluzione, che si aggiunge alla lunga serie di EM Hitachi. Questa rivoluzionaria piattaforma CFE-SEM incorpora ...

Ingrandimento: 20 unit - 2.000.000 unit
Risoluzione spaziale: 0,9, 0,8 nm

... progettato per affrontare questi aspetti e altri ancora, fornendo informazioni avanzate per le diverse esigenze nel campo della microscopia elettronica. Scoprite il nano-mondo con l'SU7000! *Le immagini sui monitor ...

... diventano esperti da un giorno all'altro. La tecnologia di regolazione automatica degli assi (autocalibrazione) riporta il microscopio alle sue "migliori condizioni" su richiesta. Una robusta camera per campioni "a ...

Ingrandimento: 10 unit - 250.000 unit
Peso: 54 kg
Larghezza: 330 mm

... caratterizzata da innovazioni e tecnologie all'avanguardia che ridefiniscono le capacità di un microscopio da tavolo. Questa nuova generazione di microscopi da tavolo (TM) Hitachi di lunga data integra ...

Risoluzione spaziale: 4, 60, 0,7, 50, 1,5 nm

... 'orientamento del campione completamente integrato per l'effetto anti-curvatura (tecnologia ACE) Preparazione del campione TEM per lamelle uniformi con qualsiasi orientamento 4. Capacità di triplo fascio, per risultati ...

Risoluzione spaziale: 2,1, 1,6 nm

... sezionamento seriale ad alta risoluzione per rispondere alle più recenti esigenze di analisi strutturale 3D e per le analisi TEM e 3DAP. Il sistema FIB-SEM NX9000 consente la massima precisione nell'elaborazione dei materiali ...

Risoluzione spaziale: 60, 4, 2,8, 3,5 nm

... preparazione di campioni TEM ad alta produttività e qualità per applicazioni all'avanguardia. * Opzione Caratteristiche Il rilevamento del punto finale del SEM ad alto contrasto e in tempo reale consente la preparazione ...

Risoluzione spaziale: 0,3 nm

... serie AFM100 è la piattaforma di microscopia a sonda di nuova generazione di Hitachi. I sistemi AFM100 Plus e AFM100 che compongono questa serie sono stati progettati per espandere le capacità e le prestazioni della microscopia ...