- Laboratorio
- Medicina di laboratorio
- Microscopio FIB
- Hitachi High-Tech Europe GmbH
Microscopio FIB NX9000FIB-SEMbiologicoda laboratorio
Aggiungi ai preferiti
Confronta con altri prodotti
Caratteristiche
- Tipo
- FIB, FIB-SEM
- Applicazioni
- da laboratorio, da ricerca, biologico
- Tecniche di osservazione
- 3D
- Configurazione
- a pavimento
- Sorgente di elettroni
- a emissione di campo freddo
- Altre caratteristiche
- alta risoluzione, a forte contrasto
- Risoluzione spaziale
1,6 nm, 2,1 nm, 4 nm
Descrizione
In questo sistema unico, le colonne Ga-FIB e FE-SEM sono ad angolo retto tra loro. Questa configurazione è ideale per le applicazioni in cui è necessario analizzare grandi volumi (tessuti biologici, materiali con strutture a grana larga, componenti di semiconduttori, ecc.) in 3D senza distorsioni e con la massima risoluzione, anche con campi visivi molto ampi. l'analisi EBSD 3D può essere eseguita anche con un campione completamente fermo, cioè senza movimento del campione tra il taglio FIB e l'analisi dello strato EBSD.
---
Cataloghi
Fiere
Fiere a cui parteciperà questo venditore
Altri prodotti Hitachi High-Tech Europe GmbH
FOCUSED ION BEAM SYSTEMS (FIB/FIB-SEM)
Ricerche correlate
- Microscopio Hitachi
- Microscopio da laboratorio Hitachi
- Microscopio da banco Hitachi
- Microscopio biologico
- Microscopio da ricerca Hitachi
- Microscopio alta risoluzione Hitachi
- Microscopio compatto
- Microscopio medico
- Microscopio per ispezione
- Microscopio a sfondo scuro
- Microscopio 3D
- Microscopio multiuso
- Microscopio a pavimento Hitachi
- Microscopio SEM Hitachi
- Microscopio per ricerca sui materiali
- Microscopio a super-risoluzione
- Microscopio TEM
- Microscopio STEM
- Microscopio automatizzato Hitachi
- Microscopio FE-SEM Hitachi
* I prezzi non includono tasse, spese di consegna, dazi doganali, né eventuali costi d'installazione o di attivazione. I prezzi vengono proposti a titolo indicativo e possono subire modifiche in base al Paese, al prezzo stesso delle materie prime e al tasso di cambio.