Microscopio ottico SU9000II
SEMda laboratoriodritto

Microscopio ottico - SU9000II - Hitachi High-Technologies - SEM / da laboratorio / dritto
Microscopio ottico - SU9000II - Hitachi High-Technologies - SEM / da laboratorio / dritto
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Caratteristiche

Tipo
ottico, SEM
Applicazioni
da laboratorio
Ergonomia
dritto
Configurazione
di piccole dimensioni
Altre caratteristiche
alta risoluzione
Ingrandimento

3.000.000 unit

Risoluzione spaziale

0,4 nm, 0,7 nm

Descrizione

La sorgente Cold Field Emission è ideale per l'imaging ad alta risoluzione grazie alle dimensioni ridotte della sorgente e alla diffusione dell'energia. L'innovativa tecnologia della pistola CFE contribuisce a creare un FE-SEM di ultima generazione, con una luminosità e una stabilità del fascio superiori, che consente di ottenere immagini ad alta risoluzione e analisi elementari di alta qualità. Per consentire un'acquisizione stabile dei dati ai massimi livelli di prestazioni dello strumento, l'SU9000II offre nuove funzionalità che rendono automatiche le regolazioni del sistema ottico e il nuovo pacchetto software EM Flow Creator come opzione per rendere automatica l'acquisizione dei dati, in particolare la raccolta dati sequenziale. Inoltre, l'esclusivo design del sistema ottico offre una capacità di EELS per l'analisi avanzata dei materiali. Caratteristiche Il GUN CFE di nuova concezione offre un'elevata luminosità e una corrente di emissione estremamente stabile. Prestazioni superiori a bassi kV per l'osservazione di materiali sensibili ai raggi. È garantita una risoluzione SE di 0,7 nm anche con una tensione di atterraggio di 1,0 kV (con opzione di decelerazione). Le nuove funzionalità che rendono automatiche le regolazioni del sistema ottico e una funzione opzionale che rende automatica l'acquisizione dei dati consentono la raccolta sequenziale dei dati. Tecnologia del vuoto migliorata che consente di raggiungere livelli UHV per ridurre la contaminazione del campione. Struttura dello strumento altamente ingegnerizzata, caratterizzata da resistenza e stabilità superiori, per consentire l'acquisizione di immagini ad alta risoluzione in un'ampia gamma di condizioni ambientali. L'obiettivo di nuova concezione consente di ottenere immagini ad alta risoluzione con una bassa tensione di accelerazione. Il sistema di scambio dei campioni a ingresso laterale aumenta la produttività riducendo il tempo necessario per cambiare i campioni e posizionando automaticamente il campione al WD corrente.

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