La sorgente Cold Field Emission è ideale per l'imaging ad alta risoluzione grazie alle dimensioni ridotte della sorgente e alla diffusione dell'energia. L'innovativa tecnologia della pistola CFE contribuisce a creare un FE-SEM all'avanguardia, con una luminosità e una stabilità del fascio superiori, che consente di ottenere immagini ad alta risoluzione e analisi elementari di alta qualità. L'esclusivo design della lente dell'oggetto è in grado di effettuare anche EELS e diffrazione.
Panoramica
L'SU9000 è il nuovo SEM premium di HITACHI. È dotato di un'ottica elettronica unica, con il campione posizionato all'interno di una fessura tra la parte superiore e quella inferiore dell'asta dell'obiettivo. Questo cosiddetto concetto di "true in-lens", combinato con la tecnologia di emissione a campo freddo di nuova generazione di HITACHI, garantisce la massima risoluzione possibile del sistema (risoluzione SE 0,4 nm a 30 kV, 1,2 nm a 1 kV senza tecnologia di decelerazione del fascio [0,8 nm con decelerazione del fascio]) e la massima stabilità.
Per rendere questo potere risolutivo utilizzabile nelle applicazioni pratiche del vostro laboratorio, l'SU9000 utilizza uno stadio di campionamento a ingresso laterale ultra-stabile simile a quello dei sistemi TEM di fascia alta e incorpora uno smorzamento delle vibrazioni ottimizzato e un armadio chiuso per schermare le ottiche elettroniche dal rumore ambientale. Inoltre, il concetto di vuoto pulito dell'SU9000 offre un livello di vuoto nella pistola e nella camera del campione migliore di un ordine di grandezza rispetto alla generazione precedente, riducendo così al minimo gli artefatti da contaminazione del campione (un'efficace pulizia pre-osservazione dei campioni stessi può essere ottenuta utilizzando il pulitore di campioni ZONESEM di Hitachi).
Oltre alla risoluzione pura e insuperabile, l'SU9000 è anche dotato di un notevole sistema di rilevamento 2+2 per l'osservazione della superficie, della composizione e della trasmissione del campione.
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