Microscopia AFM AFM100 Plus

multifunzionedi piccole dimensioni

La serie AFM100 è la piattaforma di microscopia a sonda di nuova generazione di Hitachi. I sistemi AFM100 Plus e AFM100 che compongono questa serie sono stati progettati per espandere le capacità e le prestazioni della microscopia a forza atomica, fornendo al contempo una piattaforma di facile utilizzo adatta a utenti di qualsiasi livello di esperienza. Sperimentate la massima affidabilità e innovazione con la serie AFM100. Caratteristiche Sfide per la gestione dei cantilever convenzionali - È difficile afferrare un cantilever con le pinze tradizionali a causa delle sue dimensioni ridotte. - I cantilever si danneggiano molto facilmente con una leggera pressione. - La variazione della posizione di montaggio può causare problemi di orientamento e di funzionamento. I cantilever premontati semplificano il processo per una maggiore efficienza e coerenza - Semplice procedura di montaggio della punta in un solo passaggio - Facile da maneggiare senza rischio di danni fisici - Garanzia di coerenza nell'orientamento dei puntali - Proprietà meccaniche ed elettriche affidabili Misurazione e analisi automatizzate con la funzione di autopilota con un solo clic Eseguite misure e analisi con un solo clic! - Misura multipunto automatica all'interno di un campione - Misura continua di più campioni ► Miglioramento complessivo della produttività Regolazioni automatiche con RealTune® Il RealTune* II: una funzione per la regolazione automatica dei parametri ► Ottimizzazione automatica delle condizioni di imaging - SIS: Scansione intelligente di campionamento eccellente tracciamento della punta-campione anche con caratteristiche superficiali ad alto rapporto di aspetto riduzione dell'usura della sonda e maggiore durata Analisi correlativa SEM-EDS con la nostra funzione di marcatura AFM Analizzare la stessa regione di interesse (ROI) con SEM, EDS e AFM: più informazioni = migliori risultati!