Microscopi da banco TESCAN

Ingrandimento: 1.000.000 unit

... tutti gli strumenti SEM e FIB-SEM TESCAN. Un operatore che impara con il TESCAN VEGA Compact può facilmente passare ad altri microscopi TESCAN o adattare alcune caratteristiche dell'ambiente software Essence per adattarlo ...

... Il microscopio elettronico a scansione (SEM) di quarta generazione di TESCAN VEGA con sorgente di elettroni a filamento di tungsteno combina l'imaging SEM e l'analisi della composizione elementare in tempo reale in un'unica ...

... Il microscopio elettronico a scansione (SEM) di quarta generazione di TESCAN MIRA con sorgente di emissione di elettroni FEG Schottky combina l'imaging SEM e l'analisi della composizione elementare in tempo reale in un'unica ...

... SEM UHR analitico senza campo per la caratterizzazione dei materiali su scala nanometrica Caratterizzazione senza compromessi di tutti i tipi di materiali su scala nanometrica Ideale per la caratterizzazione di materiali a basse energie ...

... SEM UHR per la caratterizzazione dei nanomateriali su scala sub-nanometrica Imaging ad alta risoluzione e ad alto contrasto di materiali di nuova generazione (ad esempio strutture di catalizzatori, nanotubi, nanoparticelle e altre strutture ...

... SEM dotato di uno speciale microtomo in camera è in grado di analizzare volumi di dimensioni eccezionali nel campo della microscopia elettronica - possono essere esaminati blocchi di quasi un millimetro cubo. Questo ci ...

... FIB-SEM Ga multiuso per l'analisi strutturale a crio e a temperatura ambiente TESCAN AMBER for Life Sciences rappresenta una soluzione FIB-SEM Ga all'avanguardia che offre capacità multifunzionali per l'analisi strutturale di campioni ...

... TESCAN AMBER X è un microscopio elettronico a scansione con fascio di ioni al plasma focalizzato (FIB-SEM) ad alte prestazioni per l'analisi di volumi extra-large e per applicazioni di crio-lavoro ad alta produttività. ...