Microscopio ottico VEGA

SEMda laboratorioper ispezione

Il microscopio elettronico a scansione (SEM) di quarta generazione di TESCAN VEGA con sorgente di elettroni a filamento di tungsteno combina l'imaging SEM e l'analisi della composizione elementare in tempo reale in un'unica finestra del software Essence™ di TESCAN. Questa combinazione semplifica notevolmente l'acquisizione di dati morfologici ed elementari dal campione, rendendo il VEGA SEM una soluzione analitica efficiente per l'ispezione di routine dei materiali nei laboratori di controllo qualità, analisi dei guasti e ricerca. Piattaforma analitica con EDS TESCAN Essence™ completamente integrato, che combina efficacemente l'imaging SEM con l'analisi della composizione elementare in un'unica finestra del software Essence™. Condizioni ottimali di imaging e analisi immediatamente disponibili grazie all'esclusivo design ottico senza apertura di TESCAN, alimentato da In-flight Beam Tracing™. Navigazione SEM precisa e senza sforzo sul campione con ingrandimenti fino a 2× senza la necessità di una telecamera di navigazione ottica aggiuntiva grazie all'esclusivo design Wide Field Optics™. La modalità SingleVac™ è una caratteristica standard per l'osservazione di campioni sensibili alla carica e al fascio. Il software Essence™, intuitivo e modulare, è stato progettato per un funzionamento semplice, indipendentemente dal livello di esperienza dell'utente. La massima sicurezza dei rivelatori montati in camera quando lo stage e il campione sono in movimento è garantita dal modello Essence™ 3D Collision. Il tampone per il vuoto opzionale riduce significativamente il tempo di funzionamento della pompa rotativa per il vuoto, offrendo vantaggi ecologici ed economici. La piattaforma analitica modulare può essere equipaggiata opzionalmente con la più ampia selezione di rivelatori completamente integrati (ad es. CL, BSE raffreddato ad acqua o spettrometro RAMAN).