Microscopio SEM VEGA

per ispezioneda laboratorioper ricerca sui materiali

Dimostrando che l'entry-level non deve per forza significare un compromesso sui risultati, TESCAN VEGA Compact offre una soluzione SEM analitica completa per i laboratori che danno priorità alla facilità d'uso e alla rapidità di ottenere immagini di alta qualità e analisi compositive (EDS). TESCAN VEGA Compact presenta una configurazione semplificata che include solo i componenti più critici per acquisire in modo efficiente i dati morfologici ed elementari, consentendo a TESCAN VEGA Compact di occupare un ingombro ridotto in laboratorio. Grazie alla capacità di accogliere campioni di grandi dimensioni, comuni nell'industria, nella scienza dei materiali e nei semiconduttori, come sezioni trasversali metallurgiche, strutture saldate o circuiti stampati, TESCAN VEGA Compact è un'ottima scelta non solo per le attuali esigenze di ispezione dei materiali, controllo qualità e analisi dei guasti, ma anche per le future esigenze analitiche. TESCAN VEGA Compact funziona con l'interfaccia utente grafica completa di TESCAN, TESCAN Essence™, che è il cuore di tutti gli strumenti SEM e FIB-SEM TESCAN. Un operatore che impara con il TESCAN VEGA Compact può facilmente passare ad altri microscopi TESCAN o adattare alcune caratteristiche dell'ambiente software Essence per adattarlo all'interfaccia grafica di altri strumenti del laboratorio. Vantaggi principali Elaborazione più rapida dei campioni grazie all'ampia camera del VEGA Compact, che offre lo spazio necessario per analizzare più campioni o campioni di grandi dimensioni, nonché un vero e proprio vuoto spinto per ottenere risultati EDS affidabili Acquisizione facile dei dati di composizione e correlazione diretta con l'immagine SEM grazie alla funzione di sovrapposizione dell'EDS Essence™ di TESCAN, opzionale e completamente integrato