Microscopio SEM MAGNA
STEMper ricerca sui materialida tavolo

microscopio SEM
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Caratteristiche

Tipo
SEM, STEM
Applicazioni
per ricerca sui materiali
Configurazione
da tavolo
Altre caratteristiche
alta risoluzione

Descrizione

SEM UHR per la caratterizzazione dei nanomateriali su scala sub-nanometrica Imaging ad alta risoluzione e ad alto contrasto di materiali di nuova generazione (ad esempio strutture di catalizzatori, nanotubi, nanoparticelle e altre strutture su scala nanometrica) Eccellente piattaforma adatta alla metrologia SEM/STEM su scala sub-nanometrica Rapida impostazione del fascio di elettroni: le condizioni ottimali di imaging sono garantite dall'In-Flight Beam Tracing™ Sistema multi-detettore TriBE™ e TriSE™ per la nano-caratterizzazione dei campioni Piattaforma modulare software intuitiva, progettata per un funzionamento senza sforzo, indipendentemente dal livello di competenza degli utenti

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* I prezzi non includono tasse, spese di consegna, dazi doganali, né eventuali costi d'installazione o di attivazione. I prezzi vengono proposti a titolo indicativo e possono subire modifiche in base al Paese, al prezzo stesso delle materie prime e al tasso di cambio.