SEM UHR per la caratterizzazione dei nanomateriali su scala sub-nanometrica
Imaging ad alta risoluzione e ad alto contrasto di materiali di nuova generazione (ad esempio strutture di catalizzatori, nanotubi, nanoparticelle e altre strutture su scala nanometrica)
Eccellente piattaforma adatta alla metrologia SEM/STEM su scala sub-nanometrica
Rapida impostazione del fascio di elettroni: le condizioni ottimali di imaging sono garantite dall'In-Flight Beam Tracing™
Sistema multi-detettore TriBE™ e TriSE™ per la nano-caratterizzazione dei campioni
Piattaforma modulare software intuitiva, progettata per un funzionamento senza sforzo, indipendentemente dal livello di competenza degli utenti
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