Microscopio ottico CLARA

SEMper biologiaper ispezione

SEM UHR analitico senza campo per la caratterizzazione dei materiali su scala nanometrica Caratterizzazione senza compromessi di tutti i tipi di materiali su scala nanometrica Ideale per la caratterizzazione di materiali a basse energie di fascio per la massima topografia superficiale Eccellente imaging di campioni sensibili al fascio e non conduttivi Impostazione completamente automatizzata del fascio di elettroni - le condizioni ottimali di imaging sono garantite dal sistema In-Flight Beam Tracing™ Navigazione intuitiva del SEM in tempo reale sul campione con ingrandimenti fino a 2× senza la necessità di una telecamera di navigazione ottica aggiuntiva grazie al design Wide Field Optics™ Esclusivo design multidetettore In-Beam che consente il rilevamento di BSE selettivo per angolo ed energia Piattaforma modulare software intuitiva, progettata per un funzionamento senza sforzo, indipendentemente dal livello di competenza degli utenti