Microscopi per analisi ambientale

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microscopio digitale
microscopio digitale
APX100

Ingrandimento: 4 unit - 100 unit
Peso: 34,6, 35,3 kg

... Il microscopio all-in-one APEXVIEW APX100 rende semplice e veloce l'acquisizione di immagini al microscopio di qualità professionale. Costruito con le rinomate ottiche Olympus, un'interfaccia utente intuitiva, ...

microscopio da laboratorio
microscopio da laboratorio
MBL2000

microscopio ottico
microscopio ottico
B-510BF

Ingrandimento: 10 unit - 1.000 unit
Peso: 9,1 kg
Altezza: 420 mm

... Testa: trinoculare (fissa 50/50), inclinata di 30°, rotante a 360°. Distanza interpupillare: Regolabile tra 50 e 75 mm. Regolazione diottrica: Sul tubo oculare sinistro. Oculari: WF10x/22 mm, con punto di osservazione alto e coppe in ...

Altri prodotti
Optika Italy
microscopio ottico
microscopio ottico
B-510ERGO

Ingrandimento: 10 unit - 1.000 unit
Peso: 9,1 kg
Larghezza: 270 mm

... Oculare PL 10x/22, punto di osservazione alto Ogiva Ogiva girevole quintupla Obiettivi IOS W-PLAN 4x, 10x, 40x, 100x Palcoscenico Doppio strato, 233×147 mm, campo mobile 78×54 mm, trasmissione a cinghia in direzione X Messa a fuoco Coassiale ...

Altri prodotti
Optika Italy
microscopio ottico
microscopio ottico
B-510PH

... Testa: trinoculare (fissa 50/50), inclinata di 30°, rotante a 360°. Distanza interpupillare: Regolabile tra 50 e 75 mm. Regolazione diottrica: Sul tubo oculare sinistro. Oculari: WF10x/22 mm, con punto di osservazione alto e coppe in ...

Altri prodotti
Optika Italy
microscopio ottico
microscopio ottico
B-510ASB

Ingrandimento: 40 unit - 1.000 unit
Peso: 9,1 kg
Larghezza: 270 mm

... Distanza interpupillare: Regolabile tra 50 e 75 mm. Regolazione diottrica: Sul tubo oculare sinistro. Oculari: WF10x/22 mm, punto di osservazione alto e WF12,5x/18 mm con regolazione diottrica, uno con reticolo Walton & Beckett. Ogiva: ...

Altri prodotti
Optika Italy
microscopio ottico
microscopio ottico
B-510-2F

Ingrandimento: 10 unit - 1.000 unit
Peso: 12 kg
Larghezza: 270 mm

... Testa: trinoculare (fotoporta fissa 50/50), inclinata di 30°, rotante di 360°. Distanza interpupillare: Regolabile tra 50 e 75 mm. Regolazione diottrica: Sul tubo oculare sinistro. Oculari: Testa principale: WF10x/22 mm, punto di osservazione ...

Altri prodotti
Optika Italy
microscopio ottico
microscopio ottico
B-510-2

Ingrandimento: 10 unit - 1.000 unit
Peso: 14 kg
Larghezza: 815 mm

... Distanza interpupillare: Regolabile tra 50 e 75 mm. Regolazione diottrica: Sul tubo oculare sinistro. Oculari: Testa principale: WF10x/22 mm, punto di osservazione alto e con coppe in gomma. Testa/e supplementare/i: WF10x/20 mm, punto ...

Altri prodotti
Optika Italy
microscopio ottico
microscopio ottico
B-510-3

Ingrandimento: 10 unit - 1.000 unit
Peso: 15 kg
Larghezza: 815 mm

... Distanza interpupillare: Regolabile tra 50 e 75 mm. Regolazione diottrica: Sul tubo oculare sinistro. Oculari: Testa principale: WF10x/22 mm, punto di osservazione alto e con coppe in gomma. Testa/e supplementare/i: WF10x/20 mm, punto ...

Altri prodotti
Optika Italy
microscopio ottico
microscopio ottico
B-510-5

Ingrandimento: 10 unit - 1.000 unit
Peso: 21 kg
Larghezza: 1.350 mm

... Modalità di osservazione: Campo chiaro. Testata: Trinoculare (porta foto fissa 50/50), inclinata di 30°, rotante a 360°. Distanza interpupillare: Regolabile tra 50 e 75 mm. Regolazione diottrica: Sul tubo oculare sinistro. Oculari: Testa ...

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microscopio spettrometro Raman a trasformata di Fourier
microscopio spettrometro Raman a trasformata di Fourier
Virsa™

Risoluzione spaziale: 1 µm - 2 µm

... al mondo dotato di sonde remote con funzione di tracciamento automatico del fuoco. Il sistema di analisi a fibre ottiche Raman Virsa porta l'analisi spettroscopica fuori dai confini del laboratorio, ...

microscopio ottico
microscopio ottico
MIRA

... Il microscopio elettronico a scansione (SEM) di quarta generazione di TESCAN MIRA con sorgente di emissione di elettroni FEG Schottky combina l'imaging SEM e l'analisi della composizione elementare in ...

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microscopio ottico
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CLARA

... SEM UHR analitico senza campo per la caratterizzazione dei materiali su scala nanometrica Caratterizzazione senza compromessi di tutti i tipi di materiali su scala nanometrica Ideale per la caratterizzazione di materiali a basse energie ...

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