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Ingrandimento: 20 unit - 2.000.000 unit
Risoluzione spaziale: 0,6, 0,9 nm
... pollici, eventualmente con un meccanismo opzionale di trasferimento a gas inerte. Panoramica I microscopi elettronici a scansione a emissione di campo ( FE- SEM) SU7000 e SU8700 di Hitachi ...
Hitachi High-Tech Europe GmbH
Ingrandimento: 20 unit - 2.000.000 unit
Risoluzione spaziale: 0,8, 0,9 nm
... I moderni microscopi FE- SEM richiedono non solo prestazioni elevate, ma anche una vasta gamma di funzionalità, tra cui l’osservazione su ampia area, l’analisi in situ, la pressione variabile, l’imaging ...
Hitachi High-Tech Europe GmbH
Ingrandimento: 5 unit - 600.000 unit
Risoluzione spaziale: 0,9, 2,5 nm
... Microscopi elettronici a scansione ( SEM) potenti e versatili, progettati per garantire prestazioni elevate, la gestione di campioni di grandi dimensioni e un'automazione intuitiva per le esigenze di imaging ...
Hitachi High-Tech Europe GmbH
Ingrandimento: 3.000.000 unit
Risoluzione spaziale: 0,8, 1,2, 0,4 nm
... montato vicino al campione per l'analisi elementare ad alta risoluzione sia in modalità SEM che STEM. Caratteristiche del prodotto: - Combinazione SEM-STEM con segnale SEM filtrato ExB e rilevamento ...
Hitachi High-Tech Europe GmbH
Ingrandimento: 20 unit - 2.000.000 unit
Risoluzione spaziale: 0,8, 0,6, 0,9 nm
... 'SU8700 inaugura una nuova era di microscopi elettronici a scansione a emissione di campo Schottky ad altissima risoluzione che va ad aggiungersi alla lunga serie di EM Hitachi. Questa rivoluzionaria piattaforma FE- SEM ...
Hitachi High-Technologies
Ingrandimento: 20 unit - 2.000.000 unit
Risoluzione spaziale: 0,7, 0,6 nm
... L'SU8600 inaugura una nuova era di microscopi elettronici a scansione a emissione di campo freddo ad altissima risoluzione, che si aggiunge alla lunga serie di EM Hitachi. Questa rivoluzionaria piattaforma CFE- SEM ...
Hitachi High-Technologies
Ingrandimento: 20 unit - 2.000.000 unit
Risoluzione spaziale: 0,8, 0,9 nm
... Il moderno FE- SEM richiede non solo prestazioni elevate ma anche una moltitudine di funzionalità, tra cui l'osservazione ad ampio raggio, l'analisi in situ, la pressione variabile, l'imaging ad alta risoluzione a basse ...
Hitachi High-Technologies
... della topografia superficiale. L'utilizzo di un SEM FE non è mai stato così semplice con la serie JSM-IT810. Caratteristiche Funzione di osservazione e analisi automatica "Neo Action L'osservazione SEM ...
Ingrandimento: 1 unit - 2.500.000 unit
... CIQTEK SEM5000 è un microscopio elettronico a scansione a emissione di campo ad alta risoluzione e ricco di funzioni ( FE- SEM, FEG SEM). Design avanzato ...
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