Microscopio Raman Icon

AFMper ricerca sui materialida banco

Il sistema Icon AFM-Raman riunisce le tecniche complementari della microscopia a forza atomica e della microscopia Raman per fornire informazioni fondamentali sia sulla topografia che sulla composizione chimica di un campione. Quando queste tecniche vengono ulteriormente potenziate con modalità AFM avanzate, come la caratterizzazione elettrica PeakForce TUNA™, esclusiva di Bruker, e la mappatura nanomeccanica quantitativa PeakForce QNM®, i ricercatori sono in grado di comprendere meglio i meccanismi che portano a specifiche proprietà dei materiali. Correlato Dati AFM e u-Raman Consente di effettuare misure co-localizzate con un'efficienza e una facilità insuperabili. Avanzato Modalità AFM Aiutano i ricercatori a comprendere meglio i meccanismi che portano a specifiche proprietà dei materiali. Provata Stabilisce un nuovo standard di prestazioni per le capacità di ricerca micro-Raman. Stabilità e flessibilità della configurazione Il sistema AFM-Raman, composto dall'AFM Dimension Icon® e da un microscopio Raman confocale per la ricerca (Horiba, LabRam), si trova su un'unica piattaforma rigida e antivibrante. Questa configurazione consente al sistema di mantenere la piena funzionalità di ogni singolo strumento, fornendo prestazioni combinate ottimali. Ad esempio, la configurazione consente di utilizzare l'intera gamma di aggiornamenti Icon, le modalità AFM e le funzioni di facile utilizzo, tra cui l'esclusiva ScanAsyst® di Bruker. È possibile personalizzare la combinazione di modalità più efficace per la propria applicazione. Integrazione perfetta di tecnica e analisi In pochi secondi è possibile trasferire un campione tra le due tecniche senza alcun disturbo. Le misure AFM e spettroscopiche della stessa area del campione vengono eseguite consecutivamente senza pericolo di disallineamento o di localizzazione imprecisa delle caratteristiche.