Microscopio Raman Innova-IRIS

AFMper ricerca sui materialida banco

Innova-IRIS combina le prestazioni AFM leader del settore e le sonde TERS esclusive di Bruker per offrire l'unica soluzione al mondo di spettroscopia Raman potenziata dalla punta (TERS) completa e garantita. Si fonde perfettamente con il sistema inVia micro-Raman di Renishaw, preservando al contempo le capacità di ciascun componente separato. Il risultato è una piattaforma produttiva e completamente integrata per la mappatura di proprietà correlate su micro e nanoscala che estende i confini delle applicazioni AFM alla nanospettroscopia e alle analisi nanochimiche. Colocalizzato Microscopia AFM e Raman Offre TERS ad alte prestazioni con funzionalità SPM complete. Proprietario Sonde TERS Presentano zero interferenze spettrali per la massima risoluzione spaziale e la garanzia di TERS. Semplificato hardware e software Ridurre la complessità delle configurazioni TERS tradizionali. Progettato specificamente per abilitare i TERS Le pubblicazioni dimostrano che una geometria a riflessione fuori asse è la soluzione migliore per massimizzare la cattura della luce, tenendo conto degli effetti di ombreggiamento e polarizzazione della punta. Innova-IRIS utilizza un'architettura ottica innovativa che accede alla giunzione punta-campione dal lato anteriore della sonda per fornire un percorso ottico ideale privo di ostruzioni. L'integrazione co-progettata dell'AFM a scansione del campione Bruker Innova con il sistema Renishaw inVia Micro-Raman mantiene l'allineamento ottico "hot-spot" durante la scansione per consentire i requisiti rigorosi dell'imaging TERS integrato. L'integrità e il posizionamento della punta sono preservati per i lunghi tempi di integrazione del segnale richiesti da una ricerca così delicata.