Dimension Icon® di Bruker offre i massimi livelli di prestazioni, funzionalità e accessibilità AFM ai ricercatori su scala nanometrica del settore scientifico e industriale. Basato sulla piattaforma AFM per grandi campioni più utilizzata al mondo, rappresenta il culmine di decenni di innovazione tecnologica, feedback dei clienti e flessibilità applicativa leader del settore. Il sistema è stato progettato da cima a fondo per offrire la rivoluzionaria bassa deriva e il basso rumore che consentono agli utenti di ottenere immagini prive di artefatti in pochi minuti anziché in ore.
Massime prestazioni
scanner a punta
Offre un'impareggiabile risoluzione di grandi campioni con livelli di rumore ad anello aperto, rumore di fondo ridotto e tassi di deriva di <200 pm.
Facile
produttività
Offre una configurazione sorprendentemente semplice, un flusso di lavoro intuitivo e tempi rapidi per ottenere sempre dati di qualità editoriale.
Versatile
piattaforma ad accesso aperto
Accoglie la più ampia varietà di esperimenti, modalità, tecniche e misure semi-automatiche.
CARATTERISTICHE
Massime prestazioni e risoluzione
La risoluzione superiore di Dimension Icon, insieme agli algoritmi di scansione elettronica proprietari di Bruker, offre all'utente un significativo miglioramento della velocità e della qualità delle misure. L'Icon rappresenta il culmine della tecnologia AFM Bruker a scansione di punta, leader del settore, che incorpora sensori di posizione a compensazione termica per rendere i livelli di rumore nell'intervallo sub-angstrom per l'asse Z e angstrom in XY. Si tratta di prestazioni straordinarie in un sistema a grande campione, con un campo di scansione di 90 micron, che supera i livelli di rumore ad anello aperto degli AFM ad alta risoluzione.
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