Microscopio ottico NanoWizard® 4 XP

a forza atomicada laboratorioda banco

Il microscopio a forza atomica NanoWizard® 4 XP NanoScience offre una risoluzione atomica e un ampio intervallo di scansione di 100 µm in un unico sistema. Consente una scansione rapida con velocità fino a 150 linee/sec e una perfetta integrazione con tecniche ottiche avanzate. Un'ampia gamma di modalità e accessori per il controllo ambientale, la mappatura delle proprietà nanomeccaniche, elettriche, magnetiche o termiche, lo rende il sistema più flessibile oggi disponibile sul mercato. Precisione Indagine sulle proprietà dei materiali Misure meccaniche, termiche ed elettriche: Visualizzare cristallizzazione, fusione, crescita e separazione di fase. Modificare i campioni con stimoli ottici, campi magnetici o tensione. Semplificato Piattaforma multiutente ideale Opzioni e funzioni avanzate per utenti esperti. Ampia gamma di accessori per lo studio di film conduttivi, gradienti di forza magnetica e forze elettrostatiche. Prestazioni 150 linee/sec, campo di scansione di 100µm Impostazione semplificata per una maggiore produttività. Ideale per esperimenti dinamici su campioni ad alta struttura. Movimento facile e veloce intorno al campione. Massima flessibilità unita a prestazioni estreme Il NanoWizard 4 XP NanoScience è dotato di una serie di nuove funzioni, tra cui: PeakForce Tapping® per una facile acquisizione delle immagini Opzione di scansione rapida fino a 150 linee/sec Tecnologia NestedScanner per l'imaging ad alta velocità di strutture superficiali fino a 16,5µm con risoluzione e stabilità eccezionali Nuova funzionalità di tiling per la mappatura automatizzata di ampie aree del campione Software V7 con una nuova e rivoluzionaria interfaccia utente basata sul flusso di lavoro Software DirectOverlay™ 2 per una perfetta integrazione e correlazione dei dati con piattaforme avanzate di microscopia a fluorescenza