Microscopio a forza atomica Edge™
da ricercada banco

Microscopio a forza atomica - Edge™  - Bruker Nano Surfaces - da ricerca / da banco
Microscopio a forza atomica - Edge™  - Bruker Nano Surfaces - da ricerca / da banco
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Caratteristiche

Tipo
a forza atomica
Applicazioni
da ricerca
Configurazione
da banco

Descrizione

Dimension Edge™ incorpora la tecnologia PeakForce Tapping® di Bruker per fornire i più alti livelli di prestazioni, funzionalità e accessibilità del microscopio a forza atomica (AFM) della sua categoria. Basato sulla piattaforma Dimension Icon, il sistema Edge è stato progettato da cima a fondo per offrire la bassa deriva e il basso rumore necessari per ottenere dati pronti per la pubblicazione in pochi minuti anziché in ore, il tutto a un prezzo nettamente inferiore alle aspettative per tali prestazioni. Il feedback visivo integrato e le impostazioni preconfigurate consentono di ottenere risultati di livello esperto in modo semplice e coerente, mettendo a disposizione di ogni struttura e utente le più avanzate capacità e tecniche AFM per grandi campioni. Modulare microscopio ed elettronica modulari Offre un'elevata fedeltà d'immagine e flessibilità di ricerca a costi contenuti. Incorporato accesso al routing del segnale Consente di effettuare misure personalizzate e di estendere le capacità di ricerca. Integrato controllo del palcoscenico Fornisce una navigazione rapida dei campioni e misure efficienti in più siti. Precisione a circuito chiuso Il cuore delle capacità di questo sistema è il rinomato scanner ad anello chiuso di Bruker. Incorporando sensori di posizione che compensano la temperatura e guidati da un'elettronica di controllo modulare a basso rumore, questo componente di scansione della punta riduce i livelli di rumore di posizionamento ad anello chiuso alla scala di lunghezza di un singolo legame chimico. Palcoscenico per campioni di grandi dimensioni Lo stage per campioni Dimension Edge non solo è motorizzato e programmabile per efficienti misure multi-sito, ma consente anche di inserire più tipi di campioni direttamente sotto lo scanner AFM con meno tempo di preparazione.

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Cataloghi

* I prezzi non includono tasse, spese di consegna, dazi doganali, né eventuali costi d'installazione o di attivazione. I prezzi vengono proposti a titolo indicativo e possono subire modifiche in base al Paese, al prezzo stesso delle materie prime e al tasso di cambio.