Microscopio con sonda a scansione Dimension XR

per nanocaratterizzazioneda bancoalta risoluzione

I sistemi di microscopio a sonda di scansione (SPM) Dimension XR di Bruker incorporano decenni di ricerca e innovazione tecnologica. Con una risoluzione di routine dei difetti atomici e una serie di tecnologie esclusive, tra cui PeakForce Tapping®, modalità DataCube, SECM e AFM-nDMA, offrono il massimo delle prestazioni e delle capacità. La famiglia di SPM Dimension XR racchiude queste tecnologie in soluzioni chiavi in mano per applicazioni nanomeccaniche, nanoelettriche ed elettrochimiche. La quantificazione di materiali e sistemi attivi su scala nanometrica in aria, fluidi, ambienti elettrici o chimicamente reattivi non è mai stata così semplice. Iperspettrale caratterizzazione nanoelettrica Include la gamma più completa di tecniche AFM elettriche per la caratterizzazione di materiali funzionali, semiconduttori e ricerca energetica. Sub-100nm imaging elettrochimico Fornisce la soluzione totale a più alta risoluzione per l'analisi quantitativa dell'attività elettrochimica locale associata a batterie, celle a combustibile e corrosione. Fuori dagli schemi analisi nanomeccanica Offre una suite di tecniche completamente quantitative e chiavi in mano per correlare struttura e proprietà nanomeccaniche dei materiali. XR Nanomechanics offre una gamma di modalità per rilevare in modo completo le strutture più piccole con risoluzione spaziale fino alle unità sub-molecolari delle catene polimeriche. I ricercatori possono correlare i dati nanomeccanici ai metodi DMA e di nanoidentificazione con la modalità proprietaria AFM-nDMA™. Ottenete una caratterizzazione quantificabile su scala nanometrica che si estende da idrogeli e compositi morbidi e appiccicosi a metalli e ceramiche rigide.