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Sistemi di preparazione dei campioni per microscopia elettronica
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sistema automatico di preparazione campioniZONETEM II
... conservazione dei campioni in un unico dispositivo Pulizia controllata sotto vuoto per adattarsi a una vasta gamma di tipi di campioni Panoramica La contaminazione da idrocarburi è uno degli ostacoli ...
Hitachi High-Tech Europe GmbH
... da banco per campioni ZONESEMII utilizza una tecnologia di pulizia a raggi UV per ridurre al minimo o eliminare la contaminazione da idrocarburi in vista dell’acquisizione di immagini al microscopio elettronico. Panoramica La ...
Hitachi High-Tech Europe GmbH
... Ottimizzato per SEM e AFM: compatibile con microscopi Hitachi e di terze parti Panoramica I sistemi di fresatura ionica Hitachi IM4000II e IM5000 garantiscono una preparazione dei ...
Hitachi High-Tech Europe GmbH
... Il sistema a fascio ionico ampio più avanzato per la produzione di campioni con sezione trasversale o fresati in piano di qualità eccezionale per la microscopia elettronica. Caratteristiche Velocità ...
Hitachi High-Tech Europe GmbH
sistema automatizzato di preparazione campioniQG-3100
... Coloratore automatico EM Dopo l'ultramicrotomia, la maggior parte delle sezioni richiede il contrasto con il piombo e i sali di uranile. Oltre ad essere pericolosi se non vengono manipolati correttamente, entrambi possono causare precipitati durante ...
Boeckeler Instruments, Inc.
Boeckeler Instruments, Inc.
sistema automatico di preparazione campioniEM GP2
... versione aggiornata dell'EM GP2 è progettata per la vitrificazione riproducibile di campioni fluidi e ultra‑sottili su griglie per microscopia elettronica. I campioni vengono blotati ...
Leica Microsystems
... )
Leica Microsystems
... flussi di lavoro combinati di microscopia ottica ed elettronica. In abbinamento all'accessorio opzionale Leica EM FSP, sistema automatizzato per la gestione dei reagenti, l'AFS2 automatizza ...
Leica Microsystems
... automatizzati e controllati per risultati riproducibili
Leica Microsystems
... eterogenei per la microscopia elettronica a scansione (SEM), l'analisi microstrutturale (EDS, WDS, Auger, EBSD) e l'esame AFM. Tre fasci ionici (controllati singolarmente), il tavolino di raffreddamento e il tavolino ...
Leica Microsystems
... Lame in vetro perfette per sezioni ultra-sottili per applicazioni EM e LM Il metodo della rottura bilanciata dell'unità Leica EM KMR3 garantisce lame in vetro perfette nei tre spessori da 6,4 mm, 8 mm e 10 mm. Semplicità d'uso Il dispositivo ...
Leica Microsystems
sistema di preparazione dei campioni per microscopia elettronicaZONESEMII
... Il pulitore di campioni da tavolo ZONESEMII utilizza una tecnologia di pulizia basata sui raggi UV per ridurre o eliminare la contaminazione da idrocarburi per l'imaging al microscopio elettronico. Panoramica La ...
sistema automatico di preparazione campioniPOLISHER™
... Il CROSS SECTION POLISHER™ (CP) è un dispositivo per preparare una sezione trasversale di un campione per la microscopia elettronica. Poiché la sezione trasversale viene preparata con un fascio di ioni, ...
Jeol
... alta qualità in un breve periodo di tempo. È inoltre possibile programmare una lavorazione intermittente per migliorare la preparazione di materiali a bassa temperatura di fusione e suscettibili all'irradiazione del fascio ionico. Facilità ...
Jeol
... essere ridotto raffreddando il campione con azoto liquido durante la lavorazione. Progettato per sopprimere il consumo di azoto liquido, consentendo lunghi periodi di raffreddamento. Raffreddamento rapido del campione ...
Jeol
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