Il CROSS SECTION POLISHER™ (CP) è un dispositivo per preparare una sezione trasversale di un campione per la microscopia elettronica.
Poiché la sezione trasversale viene preparata con un fascio di ioni, è possibile ottenere una sezione trasversale di buona qualità in tempi più brevi e senza differenze individuali, rispetto ad altri metodi come la lucidatura, che richiede esperienza.
Grazie alla nuova interfaccia grafica e all'Internet of Things (IoT), il funzionamento e il monitoraggio del processo di fresatura sono diventati più semplici con l'IB-19540CP/IB-19550CCP. La sorgente ionica ad alta velocità e il sistema di raffreddamento ad alta velocità consentono una preparazione rapida e regolare della sezione trasversale.
Caratteristiche
Nuova interfaccia grafica e Internet of Things (IoT) ~ facile da usare e con possibilità di controllo remoto~
L'integrazione di una nuova interfaccia grafica rende le operazioni di facile comprensione.
È possibile effettuare una facile configurazione seguendo il diagramma di flusso sul pannello di controllo.
Sono disponibili funzioni preimpostate per salvare e richiamare condizioni di processo adatte a specifiche applicazioni o tipi di campioni.
Collegarsi alla rete LAN per l'accesso e il controllo a distanza tramite un browser web.
Monitoraggio e regolazione del processo di fresatura su più CP.
Sorgente ionica ad alta produttività
La sorgente ionica ad alta produttività è fornita di serie.
La densità di corrente ionica è stata migliorata ottimizzando l'elettrodo della sorgente ionica e aumentando la tensione di accelerazione
e aumentando la tensione di accelerazione. La velocità di macinazione standard è ora di 1.200 μm/h.
Sistema di raffreddamento ad alta produttività ~raffreddamento automatico e ritorno automatico alla temperatura ambiente~
Il raffreddamento per il ritorno alla temperatura normale può essere eseguito automaticamente.
Inoltre, è possibile aspirare intorno al serbatoio di azoto liquido dal lato CP per mantenere il tempo di conservazione del raffreddamento e la temperatura di raffreddamento del campione.
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