Gli utenti di SEM e STEM / TEM conoscono il problema: l'imaging ad alta risoluzione è spesso compromesso (se non reso del tutto impossibile) dalla rapida formazione di una pellicola di carbonio nell'area di osservazione. Questo problema è solitamente causato da idrocarburi gassosi che si depositano continuamente durante l'osservazione a causa del trasferimento di energia del fascio di elettroni. La fonte di questi idrocarburi può essere un vuoto della camera non ottimale, che può essere migliorato con pulitori al plasma ad alta energia o, più delicatamente, con la sorgente di luce a eccimeri "Sparkle" di Hitachi.
Nella maggior parte dei casi, tuttavia, gli oggetti di osservazione e i portacampioni stessi sono la fonte principale di contaminazione. In questo caso, il trattamento al plasma si rivela spesso troppo brusco, nel senso che altera o addirittura distrugge il campione. I pulitori ZONE di Hitachi per SEM e TEM offrono un'alternativa delicata e intelligente basata sulla luce ultravioletta e sui radicali liberi dell'ossigeno: rimozione rapida e completa degli idrocarburi interferenti con un apporto energetico significativamente ridotto rispetto ai pulitori al plasma.
I pulitori per campioni della famiglia ZONE sono dotati di lampade UV con lunghezze d'onda di 185 nm e 254 nm, che attaccano i legami tipici degli idrocarburi, rompono le molecole di ossigeno e generano componenti reattivi sotto forma di ozono.
La pompa a membrana integrata genera un vuoto moderato regolabile tra 13 e 67kPa. La pressione della camera può essere utilizzata per ottimizzare il meccanismo di pulizia tra più ossidativo o più fisico a seconda del tipo di campione.
Caratteristiche del prodotto:
- Per campioni fino a 100 mm di Ø e 37 mm di altezza
- Funzione di pulizia e conservazione
- Memoria delle ricette
- Tempi di processo tipici 5-15 minuti
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