Microscopi da banco Radiology Support Devices

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microscopio AFM
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Nexus™

... Dimension Nexus™ offre una combinazione ideale di qualità dei dati, flessibilità degli esperimenti e facilità d'uso in un sistema di dimensioni ridotte. Incorpora le innovazioni fondamentali del controller NanoScope® 6 di Bruker, la tecnologia PeakForce ...

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Icon

... Il sistema Icon AFM-Raman riunisce le tecniche complementari della microscopia a forza atomica e della microscopia Raman per fornire informazioni fondamentali sia sulla topografia che sulla composizione chimica di un ...

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Innova®

... Il compatto microscopio a forza atomica (AFM) Innova® offre flessibilità applicativa per le ricerche scientifiche più impegnative a un costo contenuto. L'esclusivo sistema di linearizzazione della scansione ad anello chiuso garantisce ...

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Innova-IRIS

... nanoscala che estende i confini delle applicazioni AFM alla nanospettroscopia e alle analisi nanochimiche. Colocalizzato Microscopia AFM e Raman Offre TERS ad alte prestazioni con funzionalità SPM complete. Proprietario Sonde TERS Presentano ...

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microscopio a forza atomica
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... MultiMode® si basa sulla combinazione di risoluzione e prestazioni superiori e su una versatilità e produttività senza pari. Il microscopio a forza atomica (AFM) MultiMode 8-HR migliora ulteriormente queste capacità per offrire significativi ...

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NanoWizard® 4 XP

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microscopio AFM
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NanoWizard® V

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microscopio AFM
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NanoWizard® NanoOptics

... L'AFM NanoWizard® NanoOptics è ottimizzato per un'ampia gamma di applicazioni che vanno dall'imaging ottico su scala nanometrica mediante SNOM ad apertura e dispersione, agli esperimenti che comportano interazioni della luce con il campione, come assorbimento, ...

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microscopio con sonda a scansione
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XR

... I sistemi di microscopio a sonda di scansione (SPM) Dimension XR di Bruker incorporano decenni di ricerca e innovazione tecnologica. Con una risoluzione di routine dei difetti atomici e una serie di tecnologie esclusive, tra cui PeakForce ...

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FastScan®

... Il sistema di microscopio a forza atomica (AFM) Dimension FastScan® è stato specificamente progettato per eseguire scansioni veloci senza perdita di risoluzione, di controllo della forza, di complessità aggiuntiva o di costi operativi ...

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