Microscopio ottico JSM-IT810

SEMFE-SEMper scienze della vita

Versatilità e alta risoluzione spaziale incontrano l'automazione con il FE-SEM della serie JSM-IT810. L'automazione senza codifica per l'imaging e l'analisi EDS è integrata per un flusso di lavoro snello ed efficiente. Sono disponibili nuove funzioni per garantire dati di alta qualità e una migliore esperienza d'uso per tutti gli utenti del SEM. Le funzioni includono il pacchetto di regolazione automatica del SEM, una funzione di correzione trapezoidale (utile per le misure EBSD) e la ricostruzione 3D in tempo reale della superficie per l'osservazione della topografia superficiale. L'utilizzo di un SEM FE non è mai stato così semplice con la serie JSM-IT810. Caratteristiche Funzione di osservazione e analisi automatica "Neo Action L'osservazione SEM e l'analisi EDS possono essere automatizzate semplicemente impostando le condizioni di analisi e selezionando le aree da misurare. Pacchetto di regolazione automatica del SEM Pacchetto di regolazione automatica SEM (opzionale): Questa funzione utilizza un campione dedicato per eseguire la calibrazione dell'ingrandimento, l'allineamento del fascio e la calibrazione dell'energia EDS. Controlli regolari assicurano che l'apparecchiatura rimanga in condizioni ottimali. Funzione Live-3D Scegliete il nostro rivelatore BSE multi-segmentato di tipo semiconduttore per creare una ricostruzione 3D in tempo reale della superficie del campione. Visualizzate l'immagine 3D in tempo reale per controllare la topologia del campione. Integrazione EDS Operatività di nuova generazione che elimina le barriere tra l'osservazione al SEM e l'analisi elementare con EDS. Diversi metodi di analisi come punto, area, MAP e linea possono essere riservati direttamente sulla schermata di osservazione, consentendo l'avvio immediato di un'analisi.