Microscopi a pavimento Hitachi

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microscopio SEM
microscopio SEM
SU9000 II

Ingrandimento: 3.000.000 unit
Risoluzione spaziale: 0,8, 1,2, 0,4 nm

... L'SU9000 II è una combinazione di SEM ad immagine di superficie e microscopio a trasmissione a scansione a risoluzione intrinseca (STEM) ottimizzata per ottenere una risoluzione estrema. Ciò è reso possibile dall'esclusiva ...

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Hitachi High-Tech Europe GmbH
microscopio elettronico a scansione ad emissione di campo
microscopio elettronico a scansione ad emissione di campo
SU8700

Ingrandimento: 20 unit - 2.000.000 unit
Risoluzione spaziale: 0,9, 0,6 nm

... Dotato di serie di una camera di compensazione per campioni da 150 mm, l'SU8700 offre un'elevata produttività anche per i campioni più grandi e un ambiente della camera di campionamento costantemente pulito per un imaging ad alta risoluzione ...

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Hitachi High-Tech Europe GmbH
microscopio CFE-SEM
microscopio CFE-SEM
SU8600

Ingrandimento: 20 unit - 2.000.000 unit
Risoluzione spaziale: 0,7, 0,6 nm

... L'SU8600 è il successore della collaudata famiglia di SEM a emissione di campo Regulus e soddisfa i requisiti più elevati per le applicazioni orientate all'imaging. L'emettitore a campo freddo con emissione quasi monocromatica, combinato ...

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Hitachi High-Tech Europe GmbH
microscopio elettronico a scansione ad emissione di campo
microscopio elettronico a scansione ad emissione di campo
SU7000

Ingrandimento: 20 unit - 2.000.000 unit
Risoluzione spaziale: 0,8, 0,9 nm

... L'SU7000 è ideale per campioni grandi o pesanti e per integrare un'ampia gamma di accessori. Questi accessori includono rivelatori analitici o supporti per la manipolazione del campione in situ (stiramento [trazione] / compressione, riscaldamento/raffreddamento, ...

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Hitachi High-Tech Europe GmbH
microscopio elettronico a scansione
microscopio elettronico a scansione
SU3800/3900 Family

Ingrandimento: 5 unit - 800.000 unit
Risoluzione spaziale: 15, 4, 3 nm

... La famiglia SU3800/3900 VP-SEM punta sulla produttività. Questi strumenti automatizzano le attività ripetitive, consentendo di ottenere risultati riproducibili in breve tempo e con poco sforzo manuale. Sono disponibili due diverse camere ...

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Hitachi High-Tech Europe GmbH
microscopio elettronico a scansione
microscopio elettronico a scansione
FlexSEM II

Ingrandimento: 6, 8.000.000 unit
Risoluzione spaziale: 15, 4 nm

... FlexSEM II è un SEM da tavolo/compatto per compiti di imaging che vanno oltre le prestazioni dei SEM da tavolo convenzionali. È il sistema ideale per chi non vuole investire in un SEM classico, ma non vuole nemmeno scendere a compromessi ...

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Hitachi High-Tech Europe GmbH
microscopio STEM
microscopio STEM
HF5000

Ingrandimento: 20 unit - 8.000.000 unit
Risoluzione spaziale: 0,08, 0,1 nm

... Grazie al correttore Cs, la superficie può essere visualizzata con risoluzione atomica. La commutazione rapida e di routine tra TEM e STEM rende facile il lavoro quotidiano con un correttore Cs completamente automatico, ...

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Hitachi High-Tech Europe GmbH
microscopio TEM
microscopio TEM
HT7800 Series

Ingrandimento: 1.000.000, 800.000, 600.000 unit
Risoluzione spaziale: 0,19, 0,14, 0,2 nm

... La famiglia HT7800 supporta un'ampia gamma di applicazioni, dalle scienze biologiche alla scienza dei materiali. È disponibile in tre diverse varianti di asta, sempre basate sulla nostra lente obiettivo brevettata per passare rapidamente ...

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Hitachi High-Tech Europe GmbH
microscopio FE-SEM
microscopio FE-SEM
SU3800SE/SU3900SE

Ingrandimento: 5 unit - 600.000 unit
Risoluzione spaziale: 0,9, 2,5 nm

... I SEM Hitachi SU3800SE e SU3900SE offrono soluzioni versatili di imaging e analisi per diverse applicazioni. Questi strumenti offrono immagini ad alta risoluzione, navigazione intuitiva e automazione avanzata, garantendo risultati affidabili ...

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Hitachi High-Tech Europe GmbH
microscopio FIB-SEM
microscopio FIB-SEM
NX5000

Ingrandimento: 0 unit
Risoluzione spaziale: 4, 60 nm

... ETHOS" è destinata ad applicazioni avanzate con precisione di posizione nei settori della produzione automatizzata di lamelle TEM ultrafini per TEM/STEM con correzione delle aberrazioni, dell'esame SEM multi segnale ad ...

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Hitachi High-Tech Europe GmbH
microscopio FIB-SEM
microscopio FIB-SEM
NX9000

Risoluzione spaziale: 2,1, 1,6 nm

... sezionamento seriale ad alta risoluzione per rispondere alle più recenti esigenze di analisi strutturale 3D e per le analisi TEM e 3DAP. Il sistema FIB-SEM NX9000 consente la massima precisione nell'elaborazione dei materiali ...

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