Microscopi FIB

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microscopio FIB
microscopio FIB
NX9000

Risoluzione spaziale: 1,6, 2,1, 4 nm

... In questo sistema unico, le colonne Ga-FIB e FE-SEM sono ad angolo retto tra loro. Questa configurazione è ideale per le applicazioni in cui è necessario analizzare grandi volumi (tessuti biologici, materiali con strutture ...

microscopio FIB-SEM
microscopio FIB-SEM
NX2000

Risoluzione spaziale: 2,8, 60, 4, 3,5 nm

... NX2000 è un FIB-SEM ottimizzato per le applicazioni dei semiconduttori (analisi dei difetti con importazione di coordinate KLARF, estrazione di lamelle TEM, sviluppo di dispositivi). Con una corsa X,Y di 205 x 205 mm, ...

microscopio ottico
microscopio ottico
NX5000

Risoluzione spaziale: 4, 60, 0,7, 50, 1,5 nm

... Il FIB-SEM Hitachi Ethos incorpora un FE-SEM di ultima generazione con una luminosità e una stabilità del fascio superlative. Ethos offre immagini ad alta risoluzione a basse tensioni combinate con ottiche ioniche per ...

microscopio FIB
microscopio FIB
AMBER X

... iFIB+, TESCAN AMBER X supporta applicazioni crio-FIB precedentemente eseguite con sistemi Ga FIB, in una frazione di tempo e con i tassi di rimozione del materiale ultraveloci propri della FIB ...

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