Microscopi elettronico a scansione

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Microscopi elettronico a scansione | Come scegliere un microscopio
I microscopi si dividono in tre tipi: microscopi ottici, elettronici e a scansione di sonda. Microscopi ottici: sono dotati di una fonte di luce che illumina il campione e di un sistema di lenti ottiche in grado di formare l'immagine di tale campione. I microscopi ottici permettono di utilizzare diverse tecniche di osservazione grazie all'impostazione del tipo di illuminazione, della polarizzazione, nonché del filtraggio spettrale e spaziale. I modelli...
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microscopio ottico
microscopio ottico
GeminiSEM series

Ingrandimento: 1 unit - 2.000.000 unit

... ZEISS GeminiSEM è sinonimo di imaging senza sforzo con risoluzione sub-nanometrica. Questi FE-SEM (microscopio elettronico a scansione a emissione di campo) combinano l'eccellenza nell'imaging ...

Altri prodotti
ZEISS Microscopy
microscopio ottico
microscopio ottico
LVEM5

... (TEM - Transmission Electron Microscope) o di diffrazione (SAED - Selected Area Electron Diffraction), nonché in modalità di scansione (STEM - Scanning Transmission Electron Microscope ...

microscopio SEM
microscopio SEM
VEGA

Ingrandimento: 1.000.000 unit

... completa di TESCAN, TESCAN Essence™, che è il cuore di tutti gli strumenti SEM e FIB-SEM TESCAN. Un operatore che impara con il TESCAN VEGA Compact può facilmente passare ad altri microscopi TESCAN o ...

Altri prodotti
TESCAN GmbH
microscopio ottico
microscopio ottico
VEGA

... Il microscopio elettronico a scansione (SEM) di quarta generazione di TESCAN VEGA con sorgente di elettroni a filamento di tungsteno combina l'imaging SEM e l'analisi ...

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microscopio ottico
microscopio ottico
MIRA

... Il microscopio elettronico a scansione (SEM) di quarta generazione di TESCAN MIRA con sorgente di emissione di elettroni FEG Schottky combina l'imaging SEM e l'analisi ...

Altri prodotti
TESCAN GmbH
microscopio a forza atomica
microscopio a forza atomica

Ingrandimento: 25 unit - 200.000 unit
Peso: 330 kg
Lunghezza: 835 mm

... sub-nanometrica AFM all'imaging SEM con un semplice clic di un pulsante per estrarre i dati desiderati. I cantilever intercambiabili forniscono facilmente modalità avanzate, come l'AFM conduttivo (C-AFM) e la microscopia ...

microscopio FIB
microscopio FIB
JIB-PS500i

Ingrandimento: 50 unit - 1.000.000 unit
Risoluzione spaziale: 3 nm

... di passare senza problemi dalla fresatura FIB all'imaging al microscopio elettronico a trasmissione di scansione (STEM). Le transizioni rapide tra la lavorazione delle lamelle e l'imaging ...

Altri prodotti
Jeol
microscopio elettronico a scansione
microscopio elettronico a scansione

Risoluzione spaziale: 0,1 nm

... I microscopi elettronici chiamati SEM (Scanning Electron Microscope) e TEM (Transmission Electron Microscope) hanno il più alto ingrandimento ...

microscopio SEM
microscopio SEM
SU9000

Ingrandimento: 3.000.000 unit
Risoluzione spaziale: 0,4 nm

... dell'oggetto è in grado di effettuare anche EELS e diffrazione. Panoramica L'SU9000 è il nuovo SEM premium di HITACHI. È dotato di un'ottica elettronica unica, con il campione posizionato all'interno ...

Altri prodotti
Hitachi High-Technologies
microscopio SEM
microscopio SEM
SEM

... nostro microscopio elettronico sei in grado di visualizzare su scala submicronica e nano. Il nostro microscopio elettronico a scansione personale (SEM) ...

microscopio ottico
microscopio ottico
NPS

Risoluzione spaziale: 1,8, 2,6, 2,5, 4,6, 1 µm

... Sa, Sz,...), la forma complessa, l'ondulazione 3D e molto altro ancora - la durata della scansione è regolata dalla quantità di linee, dalla velocità di scansione e dalle dimensioni del campione! Misura ...

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