Apparecchio di misurazione di spessore MPLS-DM series
per applicazioni medichein continuoin linea

Apparecchio di misurazione di spessore - MPLS-DM series - MARPOSS - per applicazioni mediche / in continuo / in linea
Apparecchio di misurazione di spessore - MPLS-DM series - MARPOSS - per applicazioni mediche / in continuo / in linea
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Caratteristiche

Parametro misurato
di spessore
Applicazioni
per applicazioni mediche
Modo di utilizzo
in continuo
Configurazione
in linea
Altre caratteristiche
digitale
Peso

14,5 kg
(32 lb)

Larghezza

18,4 cm
(7,2 in)

Altezza

Min.: 49,7 cm
(19,6 in)

Max.: 49,7 cm
(19,6 in)

49,7 cm
(19,6 in)

Descrizione

Panoramica prodotto
La famiglia di sensori ChromaLine di STIL sfrutta la tecnologia confocale cromatica per misurazioni di linea non a contatto e ispezione in linea ad alta velocità. La versione MPLS-DM offre 180 punti di misura allineati su lunghezze di linea da 1,34 a 12,85 mm, progettata per funzionamento continuo con scarsa manutenzione.

Descrizione
MPLS-DM fornisce misurazioni di distanza e spessore ad alta risoluzione con frequenze da 200 Hz fino a 2 kHz in modalità standard e fino a 6 kHz con range di misura ridotto. Supporta l'estrazione della distanza basata su picchi (primo/ultimo e intermedi) e il calcolo dello spessore da picchi multipli. La testa ottica impiega solo componenti passivi per affidabilità industriale.

Vantaggi
  • Misura non a contatto versatile per materiali riflettenti (metalli, vetro, plastiche, vernici, liquidi)
  • Testa ottica di grado industriale composta da componenti passivi per lunga durata
  • Alto throughput: fino a 360.000 punti misurati/secondo a 2 kHz; >1.000.000 punti/secondo a 6 kHz in applicazioni dedicate
  • Modalità di misura distanza e spessore multi-picco
  • Alta risoluzione assiale e basso rumore per controllo fine di superficie e spessore
  • SDK e comandi di protocollo per integrazione semplice
  • Acquisizioni sincronizzate con ingresso encoder per processi dinamici
  • Comunicazione Gigabit Ethernet per trasferimento rapido dei dati

Applicazioni
  • Ispezione vetro automotive
  • Industria dei contenitori e imballaggi in vetro
  • Industria veicoli elettrici (misure batterie)
  • Controllo roll-to-roll e film (trasparenti e opachi, elettronica flessibile)
  • Industria elettronica (PCB)
  • Industria semiconduttori (wafer di silicio)
  • Elettronica di consumo
  • Medicale (ispezione componenti)
  • Micromeccanica e ingegneria di precisione
  • Aerospaziale (ispezione superfici e assemblaggi)
  • Orologeria e micro-assemblaggio
  • Integrazione robotica per ispezione automatizzata

Versioni
I sensori ChromaLine sono disponibili in cinque versioni standard MPLS-DM: NANOVIEW, MicroView, WireView, DeepView mk2 e SuperView, ciascuna ottimizzata in base alla lunghezza di linea e al range di misura.

Dati tecnici (controller / generale)
Controller: MPLS-DM
Tecnologia: Confocale cromatico
Sorgente: LED bianco
Numero di punti: 180
Frequenza di misura: 200 Hz – 2000 Hz (fino a 6000 Hz con range ridotto)
Misura della distanza: Picco più alto / Primo / Secondo / Terzo / Quarto / Ultimo picco
Misura dello spessore: 2 su 5 picchi
Uscita digitale: Gigabit Ethernet
Sincronizzazione: Trigger in/out
Altri I/O: Ingresso encoder (1)
Lunghezza fascio fibra: 5 m
Temperatura d'uso: 5 °C – 50 °C
Temperatura di stoccaggio: -30 °C – 70 °C
Umidità relativa: 5% – 80% RH senza condensa
Protezione: IP20
Conformità: EN 61010-1; EN 61326-1
Alimentazione: 100–240 Vac
Consumo (max/typ): 120 W / 70 W
Dimensioni (mm): 448.9 x 184 x 497
Peso: 14.5 kg

Dati tecnici (versioni sensore - valori comparativi)
Modelli / MPLS-DM (NANOVIEW / WIREVIEW / MICROVIEW / DEEPVIEW mk2 / SUPERVIEW) — Codici ordine: OPSTM705002 (NANOVIEW), OPSTM710002 (WIREVIEW), OPSTM706002 (MICROVIEW), OPST0707002 (DEEPVIEW mk2), OPSTM711001 (SUPERVIEW).
Lunghezza linea (mm): 1.34 / 1.51 / 1.8 / 4.2 / 12.85
Range di misura @2 kHz (mm): 0.12 / 0.9 / 0.5 / 2.6 / 2
Distanza di lavoro (mm): 7.4 / 7.8 / 10.1 / 19.5 / 11.3
Apertura numerica: 0.75 / 0.75 / 0.5 / 0.37 / 0.33
Pendenza max campione (°): ±43 / ±46 / ±30 / ±20 / ±17
Passo (µm): 7.5 / 8.5 / 10.1 / 23.5 / 71.8
Errore di linearità max (µm): ±0.04 / ±0.1 / ±0.08 / ±0.12 / ±0.12
Rumore statico (nm): 25 / 150 / 100 / 300 / 300
Risoluzione assiale (µm): 0.15 / 0.9 / 0.6 / 1.8 / 1.8
Dimensione spot (µm): 2.9 / 3.2 / 3.8 / 8.8 / 27.2
Uniformità (nm): 30 / 200 / 125 / 400 / 400
Spessore misurabile minimo (µm): 18 / 110 / 50 / 250 / 300
Lunghezza / diametro / peso (mm / mm / g): NANOVIEW 436.1 / 50 / 2350 ; WIREVIEW 482.5 / 70 / 2850 ; MICROVIEW 427.3 / 50 / 2250 ; DEEPVIEW mk2 428.3 / 60 / 2800 ; SUPERVIEW 397.8 / 60 / 2550
Range di misura @4 kHz (mm): 0.055* / 0.45* / 0.235* / 1.15* / 0.9*
Range di misura @6 kHz (mm): 0.030* / 0.24* / 0.12* / 0.65* / 0.5*
* Valore preliminare

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