Il sistema Anasys nanoIR3-s di Bruker combina la microscopia ottica a scansione in campo vicino (s-SNOM) e la spettroscopia IR su scala nanometrica (AFM-IR) con un microscopio a forza atomica (AFM) integrato, il tutto in un'unica piattaforma. Basandosi sull'eredità della leadership tecnologica di Anasys nella caratterizzazione nano-ottica basata su AFM, nanoIR3-s fornisce spettroscopia IR su scala nanometrica, imaging chimico e mappatura delle proprietà ottiche con una risoluzione spaziale di 10 nanometri dimostrata su campioni di materiali 2D. Il sistema consente anche l'imaging topografico AFM e la mappatura delle proprietà dei materiali con una risoluzione su scala nanometrica, rendendolo uno strumento ideale per studi correlativi in un'ampia gamma di applicazioni della scienza dei materiali. Il nanoIR3-s con opzione a banda larga aggiunge la più recente tecnologia laser a femtosecondi OPO/DFG per fornire la più ampia gamma spettrale disponibile (da 670 a 4000 cm-¹) con capacità di imaging nanochimico e nano-ottico ad alta risoluzione.
Banda larga
spettroscopia nano-FTIR
Offre una ricerca a infrarossi su scala nanometrica a femtosecondi finora irraggiungibile.
Complementare
tecniche s-SNOM e AFM-IR
Consente la mappatura delle proprietà chimiche e ottiche su scala nanometrica su un'unica piattaforma.
Correlativo
opzioni e accessori
Ampliate le capacità di mappatura delle proprietà dei materiali su scala nanometrica e di controllo ambientale dei campioni.
Spettroscopia FTIR nano ad alte prestazioni
NanoIR3-s fornisce:
Spettroscopia FTIR nano ad alte prestazioni;
Spettroscopia IR SNOM ad alte prestazioni con la più avanzata sorgente laser nanoIR disponibile;
spettroscopia nano FTIR con DFG integrato, sorgente laser a base di continuum Integrazione della sorgente di luce di sincrotrone a banda larga; e
Sorgente laser QCL multi-chip per spettroscopia e imaging chimico.
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