Spettrometro AFM IconIR

infrarossoFT-IRper nanotecnologie

Il sistema Dimension IconIR™ di Bruker per grandi campioni combina la spettroscopia infrarossa (IR) su scala nanometrica e la microscopia a scansione di sonda (SPM) su un'unica piattaforma per offrire le più avanzate capacità di spettroscopia, imaging e mappatura delle proprietà disponibili per i ricercatori accademici e gli utenti industriali. Incorporando decenni di ricerca e innovazione tecnologica, IconIR offre prestazioni impareggiabili basandosi sulle capacità di misura AFM di Dimension Icon®, le migliori del settore. Il sistema consente la microscopia correlativa e l'imaging chimico con una risoluzione e una sensibilità monostrato migliorate, mentre la sua esclusiva architettura per campioni di grandi dimensioni offre la massima flessibilità per la più ampia gamma di applicazioni. Produttivo flusso di lavoro guidato e stadio programmabile Fornisce la massima produttività di misura con un AFM-IR intrinsecamente facile da usare. Multimodale mappatura chimica e delle proprietà Fornisce dati quantitativi nanochimici, nanomeccanici e nanoelettrici. Sub-5nm imaging fototermico brevettato AFM-IR Consente la massima risoluzione, la migliore caratterizzazione del segnale/rumore con sensibilità monostrato. Capacità e prestazioni nanoIR uniche al mondo In un unico sistema, IconIR offre le massime prestazioni per la spettroscopia infrarossa su scala nanometrica, la risoluzione dell'imaging chimico e la sensibilità del monostrato. Solo Dimension IconIR offre: Spettroscopia nanoIR ad alte prestazioni con correlazione FTIR accurata e ripetibile, risoluzione chimica <5 nm e sensibilità monostrato Imaging chimico correlativo con modalità nanomeccaniche e nanoelettriche PeakForce Tapping® Imaging AFM ad altissime prestazioni e flessibilità del campione senza pari con alloggio per campioni di grandi dimensioni*