Il sistema di misurazione fotoelettrica micro-nano utilizza una tecnica di imaging microscopico, percorsi di luce a eccitazione multipla, per fornire luce monocromatica stabile e di piccole dimensioni a un dispositivo di test fotovoltaico. Le sue funzioni sono la caratterizzazione delle distribuzioni di corrente di cortocircuito, dei difetti superficiali e della riflettività dei dispositivi elettronici.
Basato sulla tecnica di scansione galvanica, il sistema è caratterizzato da una scansione rapida e da un'elevata risoluzione spaziale, ampiamente utilizzata per la ricerca sulle celle solari e sui dispositivi fotoelettrici, come il silicio sensibilizzato con coloranti, il silicio monocristallino, il silicio multicristallino, i semiconduttori organici, i rivelatori GaN e così via. L'imaging fotoelettrico può fornire importanti dati analitici per la QE, la distribuzione della resistenza e la disomogeneità della corrente fotogenerata.
Struttura del sistema:
Il sistema contiene laser di eccitazione, galvanometro a scansione, microscopio, unità di acquisizione dati e software di controllo. Durante la scansione del campione, il galvanometro esegue la scansione dello spot laser e si muove rapidamente nella direzione XY del campione. Il software registra la posizione di ciascun punto di scansione e il valore di uscita della corrente, e in modo sincrono rappresenta un grafico che mostra la distribuzione della corrente nel campione. Il percorso della luce garantisce inoltre che il modello del punto luminoso sulle diverse posizioni del campione non cambi.
Componenti:
sorgenti luminose
microscopia
galvanometro a scansione
misuratore di sorgente
stazione sonda e software
Caratteristiche
lunghezza d'onda laser multipla opzionale
facile sostituzione del campione
lo stadio lineare XY consente di cambiare facilmente il punto di misura del campione
la scansione galvanica elimina gli effetti delle vibrazioni
il software di visualizzazione può scegliere arbitrariamente l'area di scansione
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