Microscopio a raggi X Xradia 510 Versa
da laboratorioper ricerca sui materialia proiezione

microscopio a raggi X
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Caratteristiche

Tipo
a raggi X
Applicazioni
da laboratorio, per ricerca sui materiali
Ergonomia
a proiezione
Tecnica di osservazione
a contrasto di fase, 3D
Configurazione
a pavimento
Ingrandimento

0 unit, 4 unit, 20 unit

Risoluzione spaziale

700 nm

Descrizione

I microscopi a raggi X 3D (XRM) ZEISS Xradia Versa, estremamente versatili, forniscono immagini e dati 3D di qualità superiore per un'ampia gamma di materiali e ambienti di lavoro. Gli XRM Xradia Versa sono dotati di ingrandimento a doppio stadio basato su ottiche di sincrotrone e sulla rivoluzionaria tecnologia RaaD™ (Resolution at a Distance) per un'alta risoluzione anche a grandi distanze di lavoro, un grande miglioramento rispetto alla tradizionale tomografia microcomputerizzata. L'imaging non distruttivo preserva e prolunga l'uso del prezioso campione, consentendo studi 4D e in situ. Flessibilità e facilità di utilizzo Approfittate della tecnica di ingrandimento a due stadi offerta da ZEISS Xradia Versa per ottenere in modo unico il RaaD, che vi consente di studiare efficacemente la più ampia gamma di dimensioni dei campioni. L'intuitivo software di controllo Scout-and-Scan consente un'ampia gamma di competenze per l'utente nel vostro laboratorio. Visualizza i punti salienti dei microscopi a raggi X 3D ZEISS Xradia Versa: imaging non distruttivo, risoluzione più elevata e maggiore produttività. l vantaggio versatile di RaaD La tecnica di ingrandimento a due stadi offerta da ZEISS Xradia Versa consente di ottenere una risoluzione a distanza, o RaaD, che permette di studiare efficacemente la più ampia gamma di dimensioni dei campioni, compresi quelli all'interno di camere in situ. Le immagini vengono inizialmente ingrandite tramite proiezione geometrica come nella microTC convenzionale. L'immagine proiettata viene proiettata su uno scintillatore, convertendo i raggi X in un'immagine di luce visibile che viene poi ingrandita otticamente dall'ottica del microscopio prima di essere acquisita da un rilevatore CCD. La riduzione della dipendenza dall'ingrandimento geometrico consente alle soluzioni ZEISS Xradia Versa di mantenere una risoluzione spaziale submicronica fino a 500 nm a grandi distanze di lavoro.

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* I prezzi non includono tasse, spese di consegna, dazi doganali, né eventuali costi d'installazione o di attivazione. I prezzi vengono proposti a titolo indicativo e possono subire modifiche in base al Paese, al prezzo stesso delle materie prime e al tasso di cambio.