Microscopio a raggi X Xradia Ultra

per ricerca sui materialiper scienze della vitaa contrasto di fase

La nanotomografia a raggi X di sincrotrone consente l'imaging 3D non distruttivo su scala nanometrica, ma è necessario richiedere un tempo di fascio molto limitato. E se non dovessi più aspettare il tempo del sincrotrone? Immaginate di poter disporre di capacità di sincrotrone nel vostro laboratorio. Con la famiglia ZEISS Xradia Ultra, avete a disposizione microscopi a raggi X 3D non distruttivi (XRM) che offrono una risoluzione su scala nanometrica con una qualità simile a quella di un sincrotrone. Scegliete tra due modelli: ZEISS Xradia 810 Ultra e ZEISS Xradia 800 Ultra sono progettati per ottenere una qualità d'immagine ottimale per le applicazioni più frequenti. Imaging non distruttivo in ambiente nativo Imaging 3D a raggi X su scala nanometrica con risoluzione spaziale fino a 50 nm e dimensioni dei voxel di 16 nm esperimenti 3D e 4D in situ Quantificazione delle nanostrutture e utilizzo dei dati per la modellazione Esplorazione di materiali duri e morbidi Potenziate la vostra ricerca con l'imaging non distruttivo su scala nanometrica Sfruttate l'esclusivo imaging non distruttivo per osservare in 3D i fenomeni su scala nanometrica nei loro ambienti nativi. Approfittate dell'unico strumento che colma il divario tra gli XRM con risoluzione sub-micronica (come ZEISS Xradia Versa) e l'imaging 3D a più alta risoluzione, ma distruttivo, come i FIB-SEM Utilizzate soluzioni integrate in situ per eseguire l'imaging a raggi X 3D / 4D non distruttivo nel vostro laboratorio, con una risoluzione fino a 50 nm e una dimensione del voxel di 16 nm. Accelerate la vostra ricerca aggiungendo queste capacità uniche al vostro portafoglio analitico. Ottenere un contrasto e una qualità d'immagine superiori Osservate i difetti in 3D senza distruggere il campione o alterare i dati con artefatti di taglio.