Profilometro ottico TopMap Micro.View®+

multiuso3Dper topografia

TopMap Micro.View+ è il profilatore ottico di superfici di nuova generazione. Progettata per la modularità, questa stazione di lavoro completa consente configurazioni personalizzate e specifiche per le applicazioni. Micro.View+ offre l'analisi più dettagliata della rugosità superficiale, della struttura e della topografia della microstruttura. Combina i dati 3D con le informazioni a colori per ottenere visualizzazioni sorprendenti e analisi estese come la documentazione dettagliata dei difetti. La fotocamera ad alta risoluzione da 5 MP offre una visualizzazione incredibilmente dettagliata dei dati 3D delle superfici ingegnerizzate. Caratteristiche principali Interferometro a luce bianca di alta gamma con risoluzione di nm campo di misura z di 100 mm con tecnologia di scansione continua CST Con Focus Finder e Focus Tracker pronti per l'automazione Riposizionamento motorizzato di X, Y, Z, punta/inclinazione e torretta Modalità di informazione a colori per l'analisi estesa e la documentazione dei difetti Configurazioni modulari e specifiche per le applicazioni Abilitato all'automazione e pronto per la produzione La torretta codificata e motorizzata assicura una transizione senza soluzione di continuità tra gli obiettivi. Micro.View+ è dotato del più recente Focus Finder e del Focus Tracker, che mantiene la superficie a fuoco in ogni circostanza. Gli stadi di posizionamento dei campioni, completamente motorizzati, consentono la cucitura e l'automazione. Caratterizzate piccoli dettagli e microstrutture in 3D, valutate la rugosità superficiale areale Sa con risoluzione sub-nm e valutate anche gli angoli più ripidi con precisione interferometrica. Micro.View e Micro.View+ sono profilatori di superficie basati sulla tecnologia di scansione a coerenza (CSI) che offre un'eccellente risoluzione verticale indipendentemente dall'ingrandimento dell'obiettivo. Con la tecnologia di scansione continua (CST),