TopMap Micro.View è un profilatore ottico compatto e facile da usare. Questa potente soluzione metrologica combina prestazioni eccezionali e convenienza. Con un campo di misura Z esteso di 100 mm e la tecnologia di scansione continua CST, Micro.View misura topografie complesse con una risoluzione di nm. Questa comoda configurazione da tavolo è dotata di elettronica integrata, con il cercatore di fuoco intelligente che semplifica e velocizza la procedura di misura.
Caratteristiche principali
Misura della finitura superficiale in un'installazione compatta
Misura senza contatto di topografia, rugosità e struttura 3D
campo di misura z di 100 mm con tecnologia di scansione continua CST
Eccellente risoluzione laterale
Scegliete tra gli obiettivi specifici per le applicazioni
Ingombro ridotto con capacità ampliate
Approfittate della tecnologia di compensazione ambientale ECT opzionale, che garantisce risultati di misura affidabili e precisi anche in ambienti di produzione rumorosi e difficili. Micro.View è lo strumento di controllo qualità economicamente vantaggioso per l'ispezione di superfici ingegnerizzate di precisione sia nella produzione che nella ricerca.
Sistema di microscopio per la profilatura delle superfici
La luce bianca fa emergere i dettagli più fini delle superfici di precisione. Gli obiettivi del microscopio consentono di caratterizzare la finitura superficiale e di quantificare la rugosità o la levigatezza delle superfici dei vostri pezzi. Approfittate delle misure di superficie motorizzate e del posizionamento automatico. Il Focus Finder vi assiste automaticamente, in modo che possiate concentrarvi sulla qualità della superficie.
La misura di precisione è fatta di esperienza, di competenza, di esperti e di tecnologia di cui ci fidiamo. Date un'occhiata dietro le quinte,
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