Microscopio SEM JSM-IT800

da laboratorio3Dda banco

Il microscopio elettronico a scansione JSM-IT800, equipaggiato con l’innovativa sorgente elettronica ad emissione di campo Schottky “In-Lens Plus” (brevetto JEOL) unita ad uno spettrometro a raggi X (EDS) e alla nuova interfaccia grafica, consente l’acquisizione continua di dati, immagini e spettri EDS permettendo di passare dall’osservazione SEM all’analisi chimica elementare senza interruzioni. Grazie all’impiego dell’intelligenza artificiale, nuovi algoritmi di calcolo ed elaborazione dati e autofunzioni avanzate, il JSM-IT800 offre velocità e prestazioni senza compromessi con un incremento rispetto ai tradizionali FE-SEM ad alta risoluzione di oltre il 50%. Il nuovo JEOL JSM-IT800 può essere configurato e personalizzato sulla base delle proprie specifiche applicazioni e richieste fornendo uno strumento analitico completo adatto ad ogni settore applicativo: dalla biologia alla scienza dei materiali, dal settore ceramico-refrattario a quello polimerico-plastico, dall’industria alimentare a quella metallurgica passando per il mondo dei semiconduttori. Il microscopio elettronico a scansione JEOL JSM-IT800 utilizza un software di gestione di facile e immediato utilizzo, il “JEOL SEM Center”, comprendente una completa gamma di autofunzioni che consentono all’utilizzatore di passare in pochi secondi dall’osservazione SEM ad alta risoluzione all’analisi chimica elementare ad alta velocità. Il JEOL JSM-IT800 è dotato dell’innovativa sorgente elettronica ad effetto di campo Schottky “in-lens Plus” (brevetto JEOL), di un sistema di controllo ottico elettronico NEO Engine e del nuovo sistema EDS JEOL completamente integrato nel software di gestione.