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Microscopio TEM JEM-ARM200F NEOARM
STEMda laboratorioda banco

microscopio TEM
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Caratteristiche

Tipo
TEM, STEM
Applicazioni
da laboratorio
Configurazione
da banco
Risoluzione spaziale

0,07 nm, 0,1 nm, 0,11 nm, 0,16 nm, 0,25 nm

Descrizione

Dopo l’enorme successo mondiale dell’ARM-200F, JEOL presenta il suo successore: il NEOARM. Basandosi su tutto ciò che ha reso l’ARM-200F così efficace, il NEOARM aggiunge nuove funzionalità per aiutare i ricercatori ad andare ancora oltre. Non abbiamo solo migliorato le prestazioni del nostro TEM corretto, ma ci siamo anche concentrati sul renderlo più facile da utilizzare per mettere a frutto tutto il suo incredibile potenziale. Il NEOARM combina la risoluzione spaziale, la possibilità di modulare la corrente del fascio e la risoluzione energetica della sorgente Cold-FEG. Il NEOARM ha la migliore risoluzione garantita in STEM a 200 kV pari a 70 pm. La nuova sorgente Cold-FEG è molto più flessibile nell’uso rispetto a un monocromatore e permette di scendere a 0,3 eV di spread energetico così da ottenere prestazioni eccellenti in EELS. Un incredibile sviluppo dei nostri specialisti ha inoltre permesso da un lato di ridurre drasticamente i tempi per il flashing (Flash and go) e dall’altro di garantire una stabilità di emissione senza eguali. Molteplici funzionalità sono state implementate nel NEOARM: Innanzitutto, la possibilità di gestione completa da una stazione di controllo in remoto. Ciò consente in particolare di adattarsi meglio ai diversi ambienti di installazione. Per non perdere il comfort e la velocità di ottimizzazione del fascio elettronico attraverso lo schermo fluorescente, il NEOARM dispone di serie di due telecamere di visualizzazione ultraveloci. L’intervallo di tensione regolabile del NEOARM è ora compreso tra 30 kV e 200 kV. Il nuovo correttore di aberrazione sferica per STEM: ASCOR, è in grado di correggere fino al 6° ordine.

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9-12 apr 2024 München (Germania) Hall A2.212 - Stand Vide

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    Analytica China 2024
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    18-20 nov 2024 Shanghai (Cina)

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