video corpo

Microscopio ottico JEM-F200
TEMSTEMda laboratorio

microscopio ottico
microscopio ottico
microscopio ottico
microscopio ottico
Aggiungi ai preferiti
Confronta con altri prodotti
 

Caratteristiche

Tipo
ottico, TEM, STEM
Applicazioni
da laboratorio, multiuso
Tecnica di osservazione
a sfondo scuro
Configurazione
a pavimento
Altre caratteristiche
ad altissima risoluzione
Risoluzione spaziale

0,14 nm, 0,16 nm, 0,19 nm, 0,23 nm

Descrizione

Il nuovo JEM-F200 rappresenta il più avanzato e flessibile S/TEM a 200kV con sorgente ad emissione di campo, senza correttori di aberrazione. La costante domanda di miglioramento delle prestazioni che la comunità scientifica richiede, ha spinto JEOL a sviluppare un rivoluzionario S/TEM, versatile ed allo stesso tempo in grado di offrire risultati eccellenti, senza compromessi. Per tale motivo il JEM-F200 può essere equipaggiato con la stessa sorgente, Cold-FEG, tipica dei TEM JEOL con correttori di aberrazione così da poter combinare la più alta brillanza, con la minore dispersione energetica e la minima aberrazione cromatica. Il risultato finale è un evidente aumento della risoluzione spaziale ed una invidiabile prestazione in electron energy loss spectroscopy (EELS). Il JEM-F200 presenta un nuovo design che lo rende adatto sia all’operatività tradizionale che a quella da remoto grazie alla motorizzazione di tutti i rivelatori installabili. L’innovativo sistema elettro-ottico Quad Lens Condenser System permette di modulare le condizioni di illuminazione del fascio elettronico con estrema facilità al fine di ottenere le condizioni ottimali di lavoro, sulla base della tipologia di applicazione desiderata, in brevissimo tempo. Un nuovo sistema di trasferimento automatizzato del portacampione, SpecPorter™, rende più facile che mai il caricamento dei campioni, prevenendo possibili danni anche da parte di utenti poco esperti. Una volta caricato, il nuovissimo stage a migliorata stabilità, esegue movimenti del campione precisi e ad alta velocità, consentendo all’operatore di spostare il campo visivo in modo fluido da millimetri a picometri.

VIDEO

Cataloghi

Nessun catalogo è disponibile per questo prodotto.

Vedi tutti i cataloghi di Jeol

Fiere

Fiere a cui parteciperà questo venditore

ANALYTICA 2024
ANALYTICA 2024

9-12 apr 2024 München (Germania) Hall A2.212 - Stand Vide

  • Maggiori informazioni
    Analytica China 2024
    Analytica China 2024

    18-20 nov 2024 Shanghai (Cina)

  • Maggiori informazioni
    * I prezzi non includono tasse, spese di consegna, dazi doganali, né eventuali costi d'installazione o di attivazione. I prezzi vengono proposti a titolo indicativo e possono subire modifiche in base al Paese, al prezzo stesso delle materie prime e al tasso di cambio.