Microscopio ottico XploRA Nano

con sonda a scansioneda laboratorioda banco

Sistema completamente integrato basato sul microscopio a scansione SmartSPM e sul microspettrometro XploRA Raman. Compatto, completamente automatizzato e facile da usare, XploRA Nano concentra la potenza dell'AFM-Raman in un pacchetto economico ma completo, rendendo l'imaging TERS una realtà per tutti. Il sistema collaudato TERS. Piattaforma di analisi multi-campione Le misure su macro, micro e nano scala possono essere eseguite sulla stessa piattaforma. Facilità d'uso Funzionamento completamente automatizzato, per iniziare a misurare in pochi minuti, non in ore! Vera confocalità Alta risoluzione spaziale, fasi di mappatura automatizzate, opzioni di visualizzazione al microscopio. Elevata efficienza di raccolta Rilevamento Raman dall'alto verso il basso e obliquo per una risoluzione e una produttività ottimali sia nelle misurazioni misure co-localizzate e Tip-Enhanced (Raman e fotoluminescenza). Alta risoluzione spettrale Massima risoluzione spettrale, reticoli multipli con commutazione automatica, analisi di un ampio intervallo spettrale per Raman e PL. Alta risoluzione spaziale Risoluzione spettroscopica su scala nanometrica (fino a 10 nm) grazie alle spettroscopie ottiche Tip Enhanced (Raman e FotoLuminescenza) Spettroscopie ottiche (Raman e foto-luminescenza). Multi-tecnica / Multi-ambiente Numerose modalità SPM, tra cui AFM, modalità conduttive ed elettriche (CAFM), KPFM), STM, cella liquida e ambiente elettrochimico, insieme a mappatura chimica attraverso TERS/TEPL. Pieno controllo dei due strumenti attraverso un'unica stazione di lavoro e un potente software di controllo, SPM e spettrometro possono essere utilizzati simultaneamente o indipendentemente Robustezza/stabilità Scanner AFM ad alta frequenza di risonanza, funzionamento lontano dai rumori! Alta prestazioni elevate senza isolamento attivo dalle vibrazioni.