Microscopio AFM SignatureSPM

otticoRamanda laboratorio

SignatureSPM è il primo microscopio costruito su una piattaforma di caratterizzazione multimodale, che integra un microscopio a forza atomica (AFM) automatizzato con uno spettrometro Raman/fotoluminescenza, consentendo vere e proprie misurazioni colocalizzate delle proprietà fisiche e chimiche. Grazie alla combinazione delle conoscenze fisiche e chimiche ottenute in un'unica misura in tempo reale, il ricercatore può ottenere un'analisi affidabile e completa del campione, con tempi di conoscenza ridotti grazie alla minore manipolazione del campione e un'acquisizione dei dati con un elevato livello di confidenza, grazie alla correlazione delle misure differenziali. Tutte le modalità AFM incluse come standard Tutte le modalità AFM sono incluse nel pacchetto base di SignatureSPM: Microscopia a sonda Kelvin, Microscopia di forza a risposta piezoelettrica, Microscopia di forza magnetica, Nanolitografia, Misure di curve di forza. Spettrometro ad ampio raggio ottimizzato per Raman e fotoluminescenza Progettato per l'imaging spettroscopico, lo spettrometro del SignatureSPM garantisce una perdita di luce minima grazie al suo design acromatico e all'impressionante riflettività del 95%. Offre una capacità unica di eseguire misure Raman e PL accurate ed efficienti grazie al suo design versatile che può ospitare fino a 3 reticoli per coprire un'ampia gamma spettrale. Misure realmente co-localizzate con "Probe away Il comando software "Probe away" allontana il cantilever dalla superficie del campione in modo da ottenere mappe Raman confocali completamente libere. Con il comando "Probe back", la punta AFM torna automaticamente al punto di analisi precedente sulla superficie del campione.