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Microscopi SIM
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Risoluzione spaziale: 2,8, 60, 4, 3,5 nm
... NX2000 è un FIB-SEM ottimizzato per le applicazioni dei semiconduttori (analisi dei difetti con importazione di coordinate KLARF, estrazione di lamelle TEM, sviluppo di dispositivi). Con una corsa X,Y di 205 x 205 mm, lo stadio di campionamento ...

... un'ampia area di scansione, una progettazione flessibile degli esperimenti e un'integrazione eccellente con i sistemi di microscopi ottici avanzati. L'impostazione, l'allineamento e la regolazione automatica dei parametri ...

Risoluzione spaziale: 115, 269 nm
... catturare processi biologici veloci al doppio della risoluzione spaziale dei microscopi ottici convenzionali (fino a 115nm in XY) . La combinazione di N-SIM S e di un microscopio confocale ...
Nikon Instruments

Risoluzione spaziale: 115, 269 nm
Un microscopio personale a super-risoluzione che offre la stessa alta risoluzione di N-SIM S. N-SIM E è un sistema di super-risoluzione efficiente e conveniente che offre il doppio della ...
Nikon Instruments

Ingrandimento: 60, 100, 20, 40 unit
Risoluzione spaziale: 400 nm - 750 nm
... Risoluzione DeepSIM si basa su una robusta tecnica SIM a reticolo multi-spot che raggiunge una risoluzione XY di 100 nm; un aumento di 2 volte della risoluzione spaziale rispetto alla microscopia Widefield Spessore ...
Nikon Instruments

Risoluzione spaziale: 60, 4, 2,8, 3,5 nm
... preparazione di campioni TEM ad alta produttività e qualità per applicazioni all'avanguardia. * Opzione Caratteristiche Il rilevamento del punto finale del SEM ad alto contrasto e in tempo reale consente la preparazione ...
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