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Microscopi a pavimento HITACHI
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Risoluzione spaziale: 2,1, 1,6 nm
... sezionamento seriale ad alta risoluzione per rispondere alle più recenti esigenze di analisi strutturale 3D e per le analisi TEM e 3DAP. Il sistema FIB-SEM NX9000 consente la massima precisione nell'elaborazione dei materiali ...
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